En la placa de circuito impreso y en el mundo de ensamblaje requerido para la calidad del producto y la preparación del mercado, la prueba de limpieza implica el análisis de una muestra para determinar el "tipo" o "cantidad" de un material contaminante.
Este material contaminante puede ser potencialmente cualquier cosa. Puede ser grande o pequeño, cualquier cosa conocida o desconocida. El uso de diversas técnicas analíticas para las pruebas de limpieza puede ayudar a determinar qué material está disponible y cuánto.
El análisis por espectroscopía infrarroja por transformada de Fourier (FTIR) se realiza tradicionalmente cuando se cree que un contaminante observado tiene un componente orgánico. En general, estos contaminantes son un problema para las muestras a nivel de ensamblaje, como los materiales que pueden causar corrosión y provocar un cortocircuito de alta resistencia. Además de las muestras de placa de circuito impreso / ensamblaje, FTIR se puede utilizar para analizar cualquier muestra en la que esté presente un material desconocido.
El programa de prueba también puede ayudar a evaluar la consistencia, el nivel de calidad y el porcentaje del componente externo de la muestra. La radiación IR pasa a través del material, dando como resultado un espectro que sirve para iluminar las propiedades únicas de la absorción molecular y la transmisión de la muestra. Cuando se usa junto con algoritmos generados por computadora, es un método de análisis cuantitativo preciso para la identificación de materiales.
FTIR es una técnica no destructiva que puede proporcionar una alternativa superior a los métodos de distribución o filtro de análisis espectral infrarrojo. Es más preciso y ofrece un proceso de medición mecánicamente simple con una sola pieza de máquina. Las características adicionales de la prueba de limpieza FTIR incluyen un mayor nivel de sensibilidad de escaneo y una eficiencia óptica mucho mayor combinada para reducir la presencia de ruido externo.
La mayor ventaja de FTIR suele ser la velocidad del proceso. Anteriormente, los dispositivos de dispensación utilizados en la prueba de limpieza ofrecían un proceso de escaneo lento que afectaba la tasa de eficiencia en ingeniería y fabricación. Pero el FTIR es tan avanzado tecnológicamente que mide todas las frecuencias infrarrojas simultáneamente a través de una señal única generada por el interferómetro. Como la señal se puede medir en segundos, el proceso se reduce a una parte de la norma previamente aceptable.
Aunque FTIR es típicamente un análisis autoguiado, IPC ha desarrollado algunos métodos de prueba para ayudar en el análisis de "prueba de limpieza" de placas de circuito impreso y ensamblajes.
El análisis por cromatografía iónica (IC) proporciona datos relacionados con la limpieza de las especies iónicas específicas seleccionadas para las pruebas. Similar al FTIR, algunas especies iónicas de interés pueden causar corrosión o causar problemas de rendimiento eléctrico. Los datos obtenidos con la prueba de limpieza de IC se pueden usar para comparar con los requisitos conocidos, crear un proceso de "control" o investigar un problema más amplio de Análisis de fallas.
La prueba IC proporciona determinaciones cualitativas y cuantitativas precisas con respecto a la identificación del material de iones cargados positiva y negativamente. Es ampliamente utilizado en el análisis de trazas de muestras de suelo, agua y agua potable para descubrir contaminación. IC también es una prueba efectiva para determinar los haluros de la extracción de pirohidrólisis.
La cromatografía iónica puede distinguir y detectar trazas de especies iónicas y otras sustancias desde silicatos y carbohidratos hasta aminoácidos y ácidos orgánicos débiles. Una de las principales ventajas de IC es su capacidad para analizar especies moleculares en lugar de centrarse en los elementos existentes. Con este método de prueba de limpieza, es posible determinar la calidad de todo tipo de materiales moleculares y minerales y la pureza de todo, desde alimentos y bebidas hasta muestras de suelo y agua.
Como EUROLAB, somos pioneros en realizar pruebas de cromatografía iónica rápidas y altamente confiables para las siguientes industrias:
Usando estos métodos, IC permite la determinación de concentraciones iónicas "abiertas" o "en" en una muestra para su uso en estudios de control / caracterización o pruebas basadas en análisis de fallas.
El método ROSE probado y verdadero proporciona una determinación "rápida y fácil" de la limpieza general de la placa de circuito impreso / ensamblaje "en línea" o simplemente expresado. ROSE puede lograr un valor "singular" para los evaluadores. La prueba ROSE con un simple medidor de resistencia (o conductividad) proporciona una evaluación rápida de la limpieza general y ha sido utilizada por ingenieros de proceso durante décadas para controlar y / o controlar el proceso.
La prueba de limpieza ROSE se usa típicamente como un método de control de calidad en la fabricación de tableros de cables impresos y conjuntos de cables impresos. Estos tipos especiales de electrónica están sujetos a tratamientos químicos y mecánicos que tienden a aplicar tensión residual a los componentes o de alguna manera cambian las propiedades de los materiales. Cuando lo realiza un técnico experto y experimentado, la prueba ROSE puede analizar e identificar eficazmente fallas o residuos no deseados causados por el proceso de producción.
ROSE es uno de los métodos de prueba más antiguos y probados utilizados en la industria electrónica. El método implica sumergir una muestra en isopropanol y solución de agua desionizada a temperatura ambiente para tiempos de inmersión variables de no menos de 10 minutos.
Como herramienta de control de procesos, ROSE mide los materiales conductores existentes después de que los conjuntos de cables impresos se procesen con flujos a base de resina.
ROSE es la cabeza de la prueba de limpieza debido a sus muchas ventajas ampliamente reconocidas, sin costos totales mínimos de producción total. Se ha llamado con éxito durante décadas y se encuentra entre las únicas pruebas de limpieza de este tipo que son confiables como herramienta de control de procesos en un entorno de línea de producción. Otras características positivas de la prueba ROSE incluyen la capacidad de mostrar niveles brutos y propiedades no destructivas de materiales conductores cuando se prueban materiales que no son IPA o sensibles al agua.
El estándar de la industria para este análisis es el Método IPC-TM-650 2.3.25 - Detección y medición de contaminantes de superficie ionizables con resistividad (ROSE) de extracto solvente.
El análisis SEM / EDS generalmente se combina con la técnica FTIR descrita anteriormente para investigar un contaminante observado que se cree que tiene un componente inorgánico o metálico. La técnica SEM / EDS proporciona información visual y básica sobre un área de interés. Mientras que SEM ofrece una visión diferente del material "desconocido" analizado, EDS proporciona información básica. Cuando se combina la técnica SEM / EDS, se usa comúnmente para investigar "fallas" y material simple "desconocido" para determinar la composición y el posible origen de la sustancia.
El método combinado de prueba SEM / EDS, a menudo utilizado para crear imágenes de topografía de superficie en profundidad y de alta resolución, también es valioso en una amplia variedad de procesos de producción e ingeniería. Las aplicaciones potenciales van desde la visualización precisa de superficies de cobre desgastadas hasta el análisis de la composición de productos comerciales metálicos.
Es un método de análisis de superficie altamente eficaz y no destructivo que es rápido, económico y se aplica a numerosas aplicaciones. Esta prueba de limpieza de alta tecnología es una forma poderosa de análisis que puede proporcionar datos básicos de muchas maneras diferentes. Dependiendo de la posición del haz de electrones, nuestro laboratorio puede generar información básica localizada; Puede dibujar las proporciones de los elementos determinados a lo largo de un gradiente espacial o mapear la distribución y densidad de los elementos en un área de muestra.
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