El laboratorio EUROLAB brinda servicios de prueba y cumplimiento dentro del alcance del estándar IEC 61300-2-22. Esta parte de la norma IEC 61300 describe un procedimiento para determinar la idoneidad de un dispositivo de fibra óptica para soportar los efectos de un cambio de temperatura o cambios de temperatura sucesivos. El dispositivo consta de cámaras ambientales adecuadas según IEC 60068-2-14, prueba Nb.
Este procedimiento se realiza de acuerdo con IEC 60068-2-14, prueba Nb. El dispositivo bajo prueba (DUT) primero se somete a una sobretemperatura durante un cierto período de tiempo. Luego se somete a la otra temperatura extrema durante un período de tiempo igual.
El DUT se mantiene en condiciones atmosféricas estándar durante un mínimo de 2 horas, a menos que se especifique lo contrario en la especificación correspondiente. Las partes mecánicas y ópticas de alineación del dispositivo bajo prueba deben limpiarse de acuerdo con las instrucciones del fabricante. Las inspecciones y mediciones iniciales se realizan según lo requiera la especificación pertinente.
A menos que se indique lo contrario, se aplicará el perfil de temperatura. Comienza en condiciones atmosféricas estándar y aumenta hasta una temperatura TA baja a 1 °C/min. Durante t1, la temperatura baja debe mantenerse durante un mínimo de 60 minutos. Rampa hasta TB de alta temperatura a 1 °C/min. La temperatura se mantiene durante t1, luego aumenta a baja temperatura y este perfil se repite durante el número requerido de ciclos.
Ciclo opcional, para algunas categorías de rendimiento puede ser necesario subir primero a temperatura alta y agregar una espera a temperatura ambiente entre rampas a temperaturas extremas. Se permite aumentar el tiempo de residencia de cada punta para permitir tiempo suficiente para realizar un conjunto completo de mediciones.
Se debe permitir que la muestra permanezca en condiciones atmosféricas estándar durante al menos 2 horas. Las mediciones finales se registran según lo requiera la especificación pertinente. A menos que se especifique lo contrario en la especificación correspondiente, el dispositivo bajo prueba debe limpiarse de acuerdo con las instrucciones del fabricante antes de registrar las mediciones finales.
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