Pruebas de componentes semiconductores MIL-STD 750

El Laboratorio EUROLAB cuenta con el equipo de expertos y equipos tecnológicos para probar dispositivos semiconductores según la norma MIL-STD 750, incluyendo pruebas ambientales básicas y pruebas físicas y eléctricas para determinar la resistencia a los efectos nocivos de los elementos naturales y las condiciones que rodean las operaciones militares. Para los propósitos de MIL STD 750, el término "dispositivos" incluye elementos tales como transistores, diodos, reguladores de voltaje, rectificadores, diodos tunelizadores y otras partes relacionadas. Esta norma está destinada a aplicarse solo a dispositivos semiconductores.

MIL-STD-750 (F)establece métodos y procedimientos uniformes para probar dispositivos semiconductores adecuados para su uso en sistemas electrónicos militares y aeroespaciales. Los métodos y procedimientos en las diversas partes de esta norma incluyen pruebas ambientales, físicas y eléctricas básicas para determinar la resistencia a los efectos nocivos de los elementos naturales y las condiciones que rodean las operaciones militares y espaciales.

La UAF (UAF) ha auditado las pruebas de componentes avanzados para verificar el cumplimiento de las normas de laboratorio para probar el producto MIL-SPEC suministrado por el gobierno de EE. UU. EUROLAB es uno de los pocos laboratorios calificados y aprobados para el procesamiento y prueba de componentes y es un organismo de evaluación de la conformidad con acreditación de prueba para probar los métodos MIL-STD-750, así como MIL-STD-202 y MIL-STD-883.

Títulos según los ítems estándar;

Ensayos medioambientales (serie 1000)

MIL-STD-750 Número de método 1001.2 Presión barométrica (baja)
MIL-STD-750 Número de método 1011.1 Inmersión
MIL-STD-750 Número de método 1015.1 Procedimiento de irradiación de fotocorriente primaria en estado estacionario (haz de electrones)
MIL-STD-750 Número de método 1016 Resistencia de aislamiento
MIL-STD-750 Número de método 1017.1 Radiación de neutrones
MIL-STD-750 Número de método 1018.3 Análisis de gas interno
MIL-STD-750 Número de método 1019.5 Procedimiento de irradiación de dosis total en estado estacionario
MIL-STD-750 Número de método 1020.2 Clasificación de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESDS)
MIL-STD-750 Número de método 1021.3 Resistencia a la humedad
MIL-STD-750 Número de método 1022.5 Resistencia a solventes
MIL-STD-750 Número de método 1026.5 Vida operativa en estado estable
MIL-STD-750 Número de método 1027.3 Vida operativa en estado estable (plan de ejemplo)
MIL-STD-750 Número de método 1031.5 Vida útil a alta temperatura (no operativo)
MIL-STD-750 Número de método 1032.2 Vida útil de alta temperatura (no operativa) (plan de muestra)
MIL-STD-750 Número de método 1033 Estabilidad de fuga de voltaje inverso
MIL-STD-750 Número de método 1036.3 Vida operativa intermitente
MIL-STD-750 Número de método 1037.2 Vida operativa intermitente (plan de muestra)
MIL-STD-750 Número de método 1038.4 Combustión (para diodos, rectificadores y zeners)
MIL-STD-750 Número de método 1039.4 Combustión (para transistores)
MIL-STD-750 Método número 1040 Combustión (para tiristores (rectificadores controlados)
MIL-STD-750 Número de método 1041.3 Atmósfera salina (corrosión)
MIL-STD-750 Número de método 1042.3 Prueba de duración y duración para MOSFET de potencia o transistores bipolares de puerta aislada (IGBT)
MIL-STD-750 Número de método 1046.3 Niebla salina (corrosión)
MIL-STD-750 Número de método 1048 Prevención de la vida
MIL-STD-750 Número de método 1049 Vida de bloqueo (plan de muestra)
MIL-STD-750 Número de método 1051.6 Ciclos de temperatura (aire a aire)
MIL-STD-750 Número de método 1054.1 Prueba de esfuerzo de medios en macetas
MIL-STD-750 Número de método 1055.1 Ciclo de temperatura de trabajo supervisado
MIL-STD-750 Número de método 1056.7 Choque térmico (líquido a líquido)
MIL-STD-750 Número de método 1057.1 Resistencia al agrietamiento del vidrio
MIL-STD-750 Número de método 1061.1 Medición de temperatura, carcasa y espárrago
MIL-STD-750 Número de método 1066.1 Punto de rocío
MIL-STD-750 Número de método 1071.8 Sello hermético
MIL-STD-750 Número de método 1080 Prueba de rotura de puerta y rotura de puerta de un solo evento

Ensayos de propiedades mecánicas (serie 2000)

MIL-STD-750 Número de método 2005.2 Prueba de tracción axial del cable
MIL-STD-750 Número de método 2006 Aceleración constante
MIL-STD-750 Número de método 2016.2 Choque
MIL-STD-750 Número de método 2017.2 Integridad de inserción del molde
MIL-STD-750 Número de método 2026.11 Soldabilidad
MIL-STD-750 Número de método 2031.3 Resistencia al calor de soldadura
MIL-STD-750 Número de método 2036.4 Alimentación de terminal
MIL-STD-750 Número de método 2037.1 Fuerza de adherencia
MIL-STD-750 Número de método 2046.2 Fatiga por vibración
MIL-STD-750 Número de método 2051.1 Ruido de vibración
MIL-STD-750 Número de método 2052.4 Prueba de detección de ruido de impacto de partículas (PIND)
MIL-STD-750 Número de método 2056 Vibración, frecuencia variable
MIL-STD-750 Número de método 2057.2 Vibración, frecuencia variable (monitoreada)
MIL-STD-750 Número de método 2066 Dimensiones físicas
MIL-STD-750 Número de método 2068 Visual externo para diodos conductores axiales opacos, revestidos de vidrio, de enchufe doble, sin espacios
MIL-STD-750 Número de método 2069.2 Imagen de portada, MOSFET de potencia
MIL-STD-750 Número de método 2070.2 Transistores visuales de microondas discretos y de varios chips con cubierta frontal
MIL-STD-750 Número de método 2071.6 Inspección visual y mecánica
MIL-STD-750 Número de método 2072.6 Inspección del transistor visual interno (portada)
MIL-STD-750 Número de método 2073.1 Inspección interna de molde (diodo semiconductor)
MIL-STD-750 Número de método 2074.4 Inspección visual interna (diodos semiconductores discretos)
MIL-STD-750 Número de método 2075.1 Verificación de diseño visual interna sin título
MIL-STD-750 Número de método 2076.3 Radiografía
MIL-STD-750 Número de método 2077.3 Investigación de metalización con microscopio electrónico de barrido (SEM)
MIL-STD-750 Número de método 2078 Visual interno para diodos / rectificadores cableados
MIL-STD-750 Número de método 2081 Inestabilidad delantera, choque (FIST)
MIL-STD-750 Número de método 2082 Inestabilidad hacia atrás, fluctuación (BIST)
MIL-STD-750 Número de método 2101.1 Procedimientos DPA para diodos
MIL-STD-750 Número de método 2102 DPA para dispositivos conectados por cable
MIL-STD-750 Número de método 2103 Verificación de diseño para dispositivos de montaje en superficie

MIL-STD-750 se revisa periódicamente. Las versiones actuales del estándar incluyen MIL-STD-750 F, MIL-STD-750 E, MIL-STD-750 D, MIL-STD-750 C, MIL-STD-750 B, MIL-STD-750 A, MIL. -STD-750/5, MIL-STD-750/4, MIL-STD-750/3, MIL-STD-750/2 y MIL-STD-750/1.