El estándar de prueba MIL STD 750 establece métodos y procedimientos uniformes para probar dispositivos semiconductores adecuados para su uso en sistemas electrónicos militares y aeroespaciales. Los métodos y procedimientos en las diversas partes de esta norma cubren pruebas ambientales, físicas y eléctricas básicas para determinar la resistencia a los efectos nocivos de los elementos naturales y las condiciones que rodean las operaciones militares y espaciales.
A los efectos de esta norma, el término "dispositivos" incluye elementos tales como transistores, diodos, reguladores de voltaje, rectificadores, diodos de túnel y otras partes relacionadas. Este estándar está diseñado para aplicarse únicamente a dispositivos semiconductores. Los métodos y procedimientos de prueba descritos en las diversas secciones de esta norma de métodos de prueba de varias partes están diseñados para servir a una variedad de propósitos:
Determinar las condiciones apropiadas que se pueden obtener en el laboratorio y dar resultados de prueba equivalentes a las condiciones de servicio reales disponibles en el campo y lograr la repetibilidad de los resultados de la prueba. Los métodos de prueba descritos por esta norma no deben interpretarse como una representación inequívoca de la operación real del servicio en cualquier ubicación geográfica, ya que se sabe que la única prueba verdadera para la operación en una ubicación particular es una prueba de servicio real en ese punto.
En un conjunto de normas, para describir todos los métodos de prueba de carácter similar que aparecen en las especificaciones de varios dispositivos semiconductores de servicios comunes, de modo que estos métodos de prueba puedan mantenerse uniformes, lo que garantiza la protección del equipo, las horas humanas y las instalaciones de prueba. Para lograr este objetivo, es necesario hacer que cada uno de los métodos de prueba comunes se adapte a una amplia variedad de dispositivos.
Los métodos de prueba descritos por esta norma para pruebas ambientales, físicas y eléctricas de dispositivos semiconductores también se aplicarán, cuando corresponda, a las partes no cubiertas por una norma, especificación o dibujo de placa militar aprobado.
Los métodos de prueba se dividen en cinco áreas y se encuentran en las cinco partes de este estándar de métodos de prueba de varias partes. Los métodos de prueba numerados del 1000 al 1999 incluyen pruebas ambientales y están en MIL-STD-750-1. Los métodos de prueba de 2000 a 2999 cubren pruebas de propiedades mecánicas y están en MIL-STD-750-2. Las pruebas de propiedades eléctricas se manejan en dos grupos; Cubra los métodos de prueba para transistores, incluidos 3000 a 3999 (consulte MIL-STD-750-3) y cubra los métodos de prueba para diodos, incluidos 4000 a 4999 (consulte MIL-STD-750-4). Los métodos de prueba 5000 a 5999 (inclusive) son para aplicaciones de campo de alta confiabilidad y están en MIL-STD-750-5.
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