Les tests de filament anodique conducteur (CAF) permettent de déterminer la fiabilité du matériau stratifié de la carte de circuit imprimé (PCB) ou d'un produit fini. À mesure que l'espacement des conducteurs et la taille totale des pièces deviennent plus petits, la nécessité de ce test augmente.
Le test CAF est effectué avec 87% d'humidité relative (HR) à haute température et dans des conditions d'humidité élevée telles que 65 ou 85 ° C. La méthode de test standard utilisée est IPC-TM-9253, méthode 9254A, qui utilise des modèles de coupons standard tels que IPC-9255, IPC-9256, IPC-650 et IPC 2.6.25. Plusieurs fabricants d'équipement d'origine (OEM) utilisent la conception de coupons au lieu de leur propre conception de coupons standard. Les modèles de coupons doivent contenir différentes tailles de trous; gammes trou à trou, trou à plan ou axe Z; et des orientations en fibre de verre pour permettre à tous les modes de défaillance possibles de déterminer si un matériau stratifié répond aux exigences requises.
Pour la méthode de test IPC, les échantillons sont soumis à des tests environnementaux pendant 596 heures et une tension de polarisation est appliquée pendant la période de test. Des mesures de résistance périodiquement élevées, les échantillons sont toujours effectués dans des conditions. Les données sont examinées pour les grosses chutes ou les courts-circuits à haute résistance (, 1,00 x 107Ω). Lorsque la croissance du CAF est suspectée, une analyse de défaillance standard est effectuée dans la zone défaillante.
La formation de filament anodique conducteur (CAF) est définie dans IPC-TM-650, méthode 2.6.25A, la croissance de filaments de sel conducteur métallique sous l'action grâce à un processus de migration électrochimique qui agit le long d'un substrat conducteur non métallique.
Le test CAF est souvent utilisé comme test autonome, pour les qualifications IPC-4101 ou dans le cadre des spécifications OEM.
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