Tests de composants semi-conducteurs MIL-STD 750

Tests de défense

Tests de composants semi-conducteurs MIL-STD 750

Le laboratoire EUROLAB dispose de l'équipe d'experts et de l'équipement technologique pour tester les dispositifs à semi-conducteurs selon la norme MIL-STD 750, y compris des tests environnementaux de base et des tests physiques et électriques pour déterminer la résistance aux effets nocifs des éléments naturels et des conditions entourant les opérations militaires. Aux fins de MIL STD 750, le terme « dispositifs » comprend des éléments tels que des transistors, des diodes, des régulateurs de tension, des redresseurs, des diodes à effet tunnel et d'autres pièces connexes. La présente norme est destinée à s'appliquer uniquement aux dispositifs à semi-conducteurs.

Tests de composants semi-conducteurs MIL-STD 750

MIL-STD-750(F)établit des méthodes et des procédures uniformes pour tester les dispositifs à semi-conducteurs adaptés à une utilisation dans les systèmes électroniques militaires et aérospatiaux. Les méthodes et procédures décrites dans les différentes parties de cette norme comprennent des essais environnementaux, physiques et électriques de base pour déterminer la résistance aux effets nocifs des éléments naturels et des conditions entourant les opérations militaires et spatiales.

Advanced Component Testing a été inspecté pour la conformité de laboratoire par l'UAF (UAF) pour tester un produit MIL-SPEC fourni par le gouvernement américain. EUROLAB est l'un des rares laboratoires qualifiés et approuvés pour le traitement et les tests de composants et est un organisme d'évaluation de la conformité avec une accréditation de test pour tester les méthodes MIL-STD-750 ainsi que MIL-STD-202 et MIL-STD-883.

Titres selon les articles standards;

Essais environnementaux (série 1000)

Numéro de méthode MIL-STD-750 1001.2 Pression barométrique (faible)
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1011.1 Immersion
Numéro de méthode MIL-STD-750 1015.1 Procédure d'irradiation par photocourant primaire à l'état stable (faisceau d'électrons)
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1016 Résistance d'isolement
Numéro de méthode MIL-STD-750 1017.1 Rayonnement neutronique
MIL-STD-750 Méthode numéro 1018.3 Analyse de gaz interne
Numéro de méthode MIL-STD-750 1019.5 Procédure d'irradiation à dose totale en régime permanent
Numéro de méthode MIL-STD-750 1020.2 Classification de sensibilité aux décharges électrostatiques (ESDS)
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1021.3 Résistance à l'humidité
MIL-STD-750 Méthode Numéro 1022.5 Résistance aux solvants
Numéro de méthode MIL-STD-750 1026.5 Durée de vie en régime permanent
Numéro de méthode MIL-STD-750 1027.3 Durée de vie opérationnelle en régime permanent (exemple de plan)
Numéro de méthode MIL-STD-750 1031.5 Durée de vie à haute température (non opérationnelle)
Numéro de méthode MIL-STD-750 1032.2 Durée de vie à haute température (hors fonctionnement) (exemple de plan)
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1033 Stabilité de fuite de tension inverse
Numéro de méthode MIL-STD-750 1036.3 Durée de vie intermittente
Numéro de méthode MIL-STD-750 1037.2 Durée de vie intermittente (exemple de plan)
Numéro de méthode MIL-STD-750 1038.4 Combustion (pour les diodes, les redresseurs et les zeners)
Numéro de méthode MIL-STD-750 1039.4 Combustion (pour les transistors)
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1040 Combustion (pour les thyristors (redresseurs contrôlés)
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1041.3 Atmosphère saline (corrosion)
Numéro de méthode MIL-STD-750 1042.3 Test de combustion et de durée de vie des MOSFET de puissance ou des transistors bipolaires à grille isolée (IGBT)
Numéro de méthode MIL-STD-750 1046.3 Brouillard salin (corrosion)
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1048 Prévenir la vie
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1049 Durée de vie bloquante (exemple de plan)
Numéro de méthode MIL-STD-750 1051.6 Cycle de température (air-air)
Numéro de méthode MIL-STD-750 1054.1 Test de résistance des milieux en pot
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1055.1 Cycle de température de service surveillé
Numéro de méthode MIL-STD-750 1056.7 Choc thermique (liquide à liquide)
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1057.1 Résistance à la fissuration du verre
Numéro de méthode MIL-STD-750 1061.1 Mesure de température, boîtier et goujon
MIL-STD-750 Numéro de méthode 1066.1 Point de rosée
Numéro de méthode MIL-STD-750 1071.8 Joint hermétique
MIL-STD-750 Méthode numéro 1080 Test d'épuisement à événement unique et de rupture de porte à événement unique

Essais de propriétés mécaniques (série 2000)

Numéro de méthode MIL-STD-750 2005.2 Test de traction axiale
Numéro de méthode MIL-STD-750 2006 Accélération constante
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2016.2 Choc
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2017.2 Intégrité de l'insertion du moule
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2026.11 Soudabilité
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2031.3 Résistance à la chaleur de soudure
Numéro de méthode MIL-STD-750 2036.4 Alimentation aux bornes
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2037.1 Force de liaison
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2046.2 Fatigue vibratoire
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2051.1 Bruit de vibration
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2052.4 Test de détection de bruit d'impact de particules (PIND)
Numéro de méthode MIL-STD-750 2056 Vibration, fréquence variable
Numéro de méthode MIL-STD-750 2057.2 Vibration, fréquence variable (contrôlée)
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2066 Dimensions physiques
Numéro de méthode MIL-STD-750 2068 Visuel externe pour les diodes à fil axial opaques, sous verre, à double fiche, sans espace
Numéro de méthode MIL-STD-750 2069.2 Image de couverture avant, MOSFET de puissance
Numéro de méthode MIL-STD-750 2070.2 Transistors visuels micro-ondes discrets et multi-puces avec couvercle avant
Numéro de méthode MIL-STD-750 2071.6 Inspection visuelle et mécanique
Numéro de méthode MIL-STD-750 2072.6 Inspection visuelle interne du transistor (couvercle avant)
Numéro de méthode MIL-STD-750 2073.1 Inspection interne de la moisissure (diode semi-conductrice)
Numéro de méthode MIL-STD-750 2074.4 Inspection visuelle interne (diodes à semi-conducteur discrètes)
Numéro de méthode MIL-STD-750 2075.1 Vérification visuelle interne de la conception sans titre
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2076.3 Radiographie
MIL-STD-750 Méthode numéro 2077.3 Examen au microscope électronique à balayage (MEB) de la métallisation
Numéro de méthode MIL-STD-750 2078 Image interne pour les diodes/redresseurs câblés
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2081 Instabilité avant, choc (FIST)
Numéro de méthode MIL-STD-750 2082 Instabilité vers l'arrière, gigue (BIST)
MIL-STD-750 Méthode numéro 2101.1 Procédures DPA pour les diodes
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2102 DPA pour les appareils filaires
MIL-STD-750 Numéro de méthode 2103 Vérification de la conception pour les dispositifs à montage en surface

MIL-STD-750 est périodiquement révisé. Les versions actuelles de la norme incluent MIL-STD-750 F, MIL-STD-750 E, MIL-STD-750 D, MIL-STD-750 C, MIL-STD-750 B, MIL-STD-750 A, MIL. -STD-750/5, MIL-STD-750/4, MIL-STD-750/3, MIL-STD-750/2 et MIL-STD-750/1.

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