Méthodes de test MIL STD 750 pour les dispositifs à semi-conducteurs

La norme de test MIL STD 750 établit des méthodes et des procédures uniformes pour tester les dispositifs à semi-conducteurs adaptés à une utilisation dans les systèmes électroniques militaires et aérospatiaux. Les méthodes et procédures décrites dans les différentes parties de cette norme couvrent les tests environnementaux, physiques et électriques de base pour déterminer la résistance aux effets nocifs des éléments naturels et des conditions entourant les opérations militaires et spatiales.

Aux fins de la présente norme, le terme « dispositifs » comprend des éléments tels que les transistors, les diodes, les régulateurs de tension, les redresseurs, les diodes tunnel et d'autres pièces connexes. Cette norme est conçue pour s'appliquer uniquement aux dispositifs à semi-conducteurs. Les méthodes et procédures d'essai décrites dans les différentes sections de cette norme de méthode d'essai en plusieurs parties sont conçues pour répondre à divers objectifs :

Déterminer les conditions appropriées qui peuvent être obtenues en laboratoire et donner des résultats d'essai équivalents aux conditions de service réelles disponibles sur le terrain et obtenir la répétabilité des résultats d'essai. Les méthodes de test décrites par cette norme ne doivent pas être interprétées comme une représentation sans ambiguïté du fonctionnement réel du service dans n'importe quel emplacement géographique, car le seul véritable test de fonctionnement à un emplacement particulier est connu pour être un véritable test de service à ce point.

Dans un ensemble de normes, pour décrire toutes les méthodes d'essai de caractère similaire apparaissant dans les spécifications de divers dispositifs semi-conducteurs de services communs, de sorte que ces méthodes d'essai puissent être maintenues uniformes, provoquant ainsi la protection de l'équipement, des heures humaines et des installations d'essai. Pour atteindre cet objectif, il est nécessaire de rendre chacune des méthodes de test courantes adaptable à une grande variété d'appareils.

Les méthodes d'essai décrites par la présente norme pour les essais environnementaux, physiques et électriques des dispositifs à semi-conducteurs s'appliqueront également, le cas échéant, aux pièces non couvertes par une norme de forme de plaque militaire approuvée, une spécification ou un dessin.

Les méthodes d'essai sont divisées en cinq domaines et se trouvent dans les cinq parties de cette norme de méthode d'essai en plusieurs parties. Les méthodes de test numérotées de 1000 à 1999 incluent les tests environnementaux et sont conformes à la norme MIL-STD-750-1. Les méthodes de test de 2000 à 2999 couvrent les tests de propriétés mécaniques et sont conformes à la norme MIL-STD-750-2. Les tests de propriétés électriques sont traités en deux groupes ; Couvrir les méthodes de test pour les transistors, y compris 3000 à 3999 (voir MIL-STD-750-3) et couvrir les méthodes de test pour les diodes, y compris 4000 à 4999 (voir MIL-STD-750-4). Les méthodes de test 5000 à 5999 (inclus) sont destinées aux applications de terrain à haute fiabilité et sont conformes à la norme MIL-STD-750-5.

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