Tests MIL-STD-883

La norme MIL-STD-883 définit les tests de compatibilité des microcircuits. MIL-STD-883 est la norme de test militaire qui établit des méthodes, des contrôles et des procédures uniformes pour tester les dispositifs microélectroniques. 

Le but des tests MIL-STD-883 est d'identifier les dispositifs adaptés à une utilisation dans les systèmes électroniques militaires et aérospatiaux en fonction des effets nocifs des éléments et des conditions naturels.

La norme MIL-STD 883 définit les appareils comme des éléments tels que des microcircuits monolithiques, multipuces, à film et hybrides, des matrices de microcircuits et des éléments à partir desquels des circuits et des matrices sont construits. La présente norme est destinée à s'appliquer uniquement aux dispositifs microélectroniques.

Cette norme de conformité militaire a trois objectifs principaux. La première consiste à identifier les conditions appropriées qui peuvent être réalisées en laboratoire et au niveau de l'instrument. Ces conditions donnent des résultats d'essai équivalents aux conditions de service réelles disponibles sur le terrain. Il est très important d'obtenir la répétabilité des résultats des tests.

Le deuxième objectif est de décrire dans une norme unique toutes les méthodes d'essai de caractère similaire observées dans divers services communs et les spécifications des dispositifs microélectroniques de la NASA. C'est un objectif de garder ces méthodes uniformes. Le résultat est la protection de l'équipement, des heures de fonctionnement et des installations d'essai. Pour atteindre cet objectif, chacun des tests généraux doit être rendu adaptable à une large gamme d'appareils.

L'objectif final est de fournir un niveau d'uniformité dans les tests physiques, électriques et environnementaux ; contrôles de fabrication et fabrication; et matériaux. Cela garantira une qualité et une fiabilité constantes sur tous les appareils analysés par rapport à la norme de test.

MIL-STD 883 est divisé en cinq séries. Vous trouverez ci-dessous un résumé de tous les tests et des liens vers des informations supplémentaires pour certains tests.

Essais environnementaux :

• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1001 Pression barométrique, réduite (fonctionnement en altitude)
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1002 Immersion
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1003 Résistance d'isolement
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1004 Résistance à l'humidité
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1005 Durée de vie en régime permanent
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1006 Durée de vie intermittente
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1007 Durée d'acceptation
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1008 Four de stabilisation
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1009 Atmosphère saline (corrosion)
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1010 Cycle de température
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1011 Choc thermique
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1012 Propriétés thermiques
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1013 Point de rosée
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1014 Sceau
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1015 Test de combustion
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1016 Tests de caractérisation vie/sécurité
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1017 Irradiation neutronique
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1018 Analyse de gaz interne
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1019 Procédure de test des rayonnements ionisants (dose totale)
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1020 Procédure de test de verrouillage induit par le débit de dose
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1021 Test de dégradation du débit de dose des microcircuits numériques
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1022 Tension de seuil Mosfet
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1023 Réponse au débit de dose des microcircuits linéaires
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 1030 Brûlure du joint avant
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1031 Test de corrosion en couche mince
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1032 Procédure de test d'erreur logicielle des paquets (due aux particules alpha)
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1033 Test d'endurance
• MIL-STD-883 Méthode numéro 1034 Test de ressuage (pour les dispositifs en plastique)

Essais mécaniques :

• Numéro de méthode MIL-STD-883 2001 Accélération constante
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2002 Choc mécanique
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2003 Soudabilité
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2004 Intégrité du fil
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2005 Fatigue vibratoire
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2006 Bruit de vibration
• Numéro de méthode MIL-STD-883 2007 Vibration, fréquence variable
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2008 Visuel et mécanique
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2009 Image extérieure
• Numéro de méthode MIL-STD-883 2010 Visuel interne (monolithique)
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2011 Force de liaison (test destructif de traction de liaison)
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2012 Radiographie
• Inspection visuelle interne pour la méthode MIL-STD-883 numéro 2013 DPA
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2014 Visuel et mécanique internes
• MIL-STD-883 Méthode Numéro 2015 Résistance aux solvants
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2016 Dimensions physiques
• Numéro de méthode MIL-STD-883 2017 Visuel interne (hybride)
• MIL-STD-883 Méthode numéro 2018 Inspection au microscope électronique à balayage (MEB) de la métallisation
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2019 Résistance au cisaillement de la matrice
• MIL-STD-883 Méthode numéro 2020 Test de détection de bruit d'impact de particules
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2021 Intégrité de la couche de glassification
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2022 Soudabilité au niveau de mouillage
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2023 Tirage de liaison non destructif
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2024 Couple de serrage du couvercle pour les emballages scellés en fritte de verre
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2025 Collage du revêtement de plomb
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2026 Vibration aléatoire
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2027 Force d'adhérence de surface
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2028 Test de traction destructif du paquet de grille de broches
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2029 Force de liaison du support de puce en céramique
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2030 Inspection par ultrasons de l'insert de moule
• MIL-STD-883 Méthode numéro 2031 Test d'arrachement de la puce retournée
• Numéro de méthode MIL-STD-883 2032 Inspection visuelle des éléments passifs
• MIL-STD-883 Méthode numéro 2035 Inspection par ultrasons des ligaments TAB
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 2036 Résistance à la chaleur de soudure

Tests électriques (numériques) :

• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3001 Source du pilote, dynamique
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3002 Conditions de charge
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3003 Mesures de latence
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3004 Mesures du temps de transition
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3005 Courant d'alimentation
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3006 Tension de sortie de haut niveau
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3007 Tension de sortie de bas niveau
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3008 Tension de claquage, entrée ou sortie
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3009 Courant d'entrée, niveau bas
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3010 Courant d'entrée, niveau élevé
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3011 Courant de court-circuit de sortie
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3012 Capacité terminale
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3013 Mesures de marge de bruit pour la microélectronique numérique
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3014 Tests fonctionnels
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3015 Classification de sensibilité aux décharges électrostatiques
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3016 Vérification de l'heure d'activation
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3017 Transmission du signal numérique du package microélectronique
• MIL-STD-883 Méthode numéro 3018 Mesures de diaphonie pour les boîtiers de dispositifs microélectroniques numériques
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3019 Mesures d'impédance de terre et d'alimentation pour les boîtiers de dispositifs microélectroniques numériques
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3020 Courant de fuite de sortie de faible niveau à haute impédance (hors état)
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3021 Courant de fuite de sortie de niveau élevé à haute impédance (hors état)
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3022 Tension de pince d'entrée
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3023 Mesures de verrouillage statique pour les dispositifs microélectroniques CMOS numériques
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 3024 Mesures de bruit de commutation simultanée pour la microélectronique numérique

Tests électriques (linéaires) :

• Numéro de méthode MIL-STD-883 4001.1 Tension et courant de décalage d'entrée et courant de polarisation
• MIL-STD-883 Méthode numéro 4002.1 Mesures de la marge de phase et de la vitesse de rotation
• Numéro de méthode MIL-STD-883 4003.1 Plage de tension d'entrée en mode commun, taux de réjection en mode commun, taux de réjection de la tension d'alimentation
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 4004.2 Performance en boucle ouverte
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 4005.1 Performances de sortie
• Numéro de méthode MIL-STD-883 4006 Gain de puissance et facteur de bruit
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 4007 Plage de contrôle de gain automatique

Les procédures d'essai:

• MIL-STD-883 Numéro de méthode 5001 Vérification de la valeur moyenne du paramètre
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 5002 Contrôle de la distribution des paramètres
• MIL-STD-883 Méthode numéro 5003 Procédures d'analyse des défaillances pour les microcircuits
• MIL-STD-883 Méthode numéro 5004 Procédures de numérisation
• MIL-STD-883 Méthode numéro 5005 Procédures de qualification et de conformité qualité
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 5006 Test limite
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 5007 Acceptation du lot de plaquettes
• MIL-STD-883 Méthode numéro 5008 Procédures de test pour les microcircuits hybrides et multipuces
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 5009 Analyse physique perturbatrice
• MIL-STD-883 Méthode numéro 5010 Procédures de test pour les microcircuits monolithiques personnalisés
• MIL-STD-883 Méthode numéro 5011 Procédures d'évaluation et d'acceptation des adhésifs polymères
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 5012 Mesure de l'étendue des défauts pour les microcircuits numériques
• MIL-STD-883 Numéro de méthode 5013 Contrôle de la fabrication des tranches et procédures d'acceptation des tranches pour tranches de GaAs usinées

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