JEDEC Standart Testleri

JEDEC Katı Hal Teknolojisi Derneği, merkezi ABD’de bulunan bağımsız bir yarı iletken mühendisliği ticaret organizasyonu ve standardizasyon kuruluşudur. JEDEC standartları, üreticilerden tüketicilere kadar elektronik sektörünün tamamını kapsamayı amaçlamaktadır. Standartlar geliştirilirken paketleme, test etme, kalite ve güvenilirliğin tümü dikkate alınır.

Bugüne kadar yayınlanmış ve yürürlükte olan JEDEC standartları şunları içermektedir:

• JESD302 Eğlence hizmeti için düşük güç, ses frekans transistörleri için beta belirtme aralıkları ve koşulları
• JESD306 Transistörlerin küçük sinyal HF, VHF ve UHF güç kazanımı ölçümü
• JESD313-B İletim soğutmalı güç transistörlerinin ısı direnç ölçümleri
• JESD340 CRE ölçümü standardı
• JESD353 20 kHz’e kadar frekanslarda transistör gürültü şeklinin sinüzoidal sinyal jeneratör yöntemiyle ölçülmesi
• JESD354 20 kHz’e kadar frekanslarda transistör eşdeğer gürültü voltajı ve eşdeğer gürültü akımı ölçümü
• JESD370B Yarı iletken cihazlar için tasarım sistemi
• JESD371 Küçük sinyal VHF-UHF transistör kısa devre ileri akım aktarım oranı ölçümü
• JESD372 Küçük sinyal VHF-UHF transistör giriş parametrelerinin ölçülmesi
• JESD381-A Diyot Q ölçüm yöntemi
• JESD15-3 İki dirençli kompakt termal model kılavuzu
• JESD207.01 Radyo ön uç - baseband dijital paralel (RBDP) arayüzü
• JESD398 Transistör kapasitansının küçük değerlerinin ölçülmesi
• JESD435 Küçük sinyal transistör dağılım parametrelerinin ölçülmesi standardı
• JESD531 Sinyal ve regülatör diyetler için ısı direnç test yöntemi (ileri gerilim, anahtarlama yöntemi)
• JESD100B.01 Mikro bilgisayarlar, mikroişlemciler ve bellek tümleşik devreler için terimler, tanımlar ve harf sembolleri
• JESD1 Doğrusallar için standardize edilmiş kurşunsuz çip taşıyıcı PIN çizimleri
• JESD11C MOS 4000, HC ve HCT serisi mantık devreleri için standardize edilmiş çip taşıyıcı PIN çizimleri
• JESD12 Yarı özel entegre devreler
• JESD12-1B JESD12 standardına ek no 1 Kapı dizileri ve hücre tabanlı entegre devreler için terimler ve tanımlar
• JESD13-B B serisi CMOS cihazların açıklaması için standart şartname
• JESD14 Yarı iletken güç kontrol modülleri
• JESD18-A Hızlı CMOS TTL uyumlu mantığın açıklaması için bir standart
• JESD19 İstatistiksel süreç kontrolü için genel standart (SPC)
• JESD2 Chip taşıyıcılar için dijital çift kutuplu mantık PIN çıkışları
• JESD22-A112-A Plastik yüzeye montajlı cihazlar için nemin kaynaklı gerilim hassasiyeti
• JESD22-B106E Delikten montajlı cihazlar için lehim şokuna karşı direnç
• JESD23 Sıvı kristal cihazlar için test yöntemleri ve karakter tasarımları
• JESD24 Güç mosfetleri
• JESD24-1 JESD24’e ek no 1 Güç cihazı kapatma anahtarlama kaybını ölçme yöntemi
• JESD24-10 JESD24’e ek no 10 Güç mosfet döküm-kaynak diyadotları için ters geri kazanım süresinin ölçülmesi için test yöntemi
• JESD24-2 JESD24’e ek no 2 Kapı şarj test yöntemi
• JESD24-11 JESD24’e ek no 11 Güç mosfet eşdeğer serisi kapı direnci test yöntemi
• JESD24-3 JESD24’e ek no 3 Dikey güç mosfetleri için termal empedans ölçümleri (delta kaynak-boşaltma gerilim yöntemi)
• JESD24-5 JESD24’e ek no 5 Tek darbeli kelepçesiz endüktif anahtarlama (USI) çığ test yöntemi
• JESD24-4 JESD24’e ek no 4 Çift kutuplu transistörler için termal empedans ölçümleri (delta baz-emitör gerilim yöntemi)
• JESD24-6 JESD24’e ek no 6 Yalıtımlı kapı iki kutuplu transistörler için ısı empedans ölçümleri
• JESD24-8 JESD24’e ek no 8 Tekrarlamalı endüktif yük çığın değiştirilmesi yöntemi
• JESD24-7 JESD24’e ek no 7 güç transistörlerinin ters geri kazanılması sırasında DV/DT ölçümü için komutaman diyot güvenli çalışma alanı test prosedürü
• JESD25 Küçük sinyal transistör dağılım parametrelerinin ölçülmesi
• JESD24-9 JESD24’e ek no 9 Kısa devre dayanım süresi test yöntemi
• JESD28-A DC stres altında n-kanal mosfet sıcak taşıyıcıdan kaynaklanan bozulmanın ölçülmesine yönelik bir prosedür
• JESD3-C Veri hazırlama sistemi ile programlanabilir mantık cihazı programlayıcı arasında standart veri aktarım formatı
• JESD32 Zincir açıklama dosyası için standart
• JESD34 Silikon cihazların arıza mekanizmasına bağlı güvenilirlik nitelikleri
• JESD35-A İnce dielektriklerin gövde seviyesi testine yönelik prosedür
• JESD35-1 JESD35’e ek no 1 İnce dielektriklerin gövde seviyesinde testleri için test yapılarının tasarlanmasına ilişkin genel kılavuzlar
• JESD36 Alçak gerilim TTL uyumlu, 5 V toleranslı CMOS mantık cihazlarının standart açıklaması
• JESD35-2 JESD35’e ek no 2 İnce dielektriklerin gövde seviyesi testi için test kriterleri
• JESD12-2 JESD12’ye ek no 2 Hücre tabanlı entegre devre karşılaştırma seti standardı
• JESD12-3 JESD12’ye ek no 3 CMOS kapı dizisi makro hücre standardı
• JESD12-4 JESD12’ye ek no 4 CMOS yarı özel entegre devreler için performans parametrelerinin belirtilmesi yöntemi
• JESD12-5 JESD12’ye ek no 5 Test edilebilirlik kılavuzu için tasarım
• JESD12-6 JESD12’ye ek no 6 Yarı özel entegre devreler için arayüz standardı
• JESD38 Arıza analizi rapor formatı için standart
• JESD37A Sansürlenmemiş ve tek başına doğru verilerin standart lognormal analizi
• JESD39-A Kalite sistemi değerlendirmesi
• JESD40 Katı hal bileşenlerinin yüklenicileri tarafından tedarik kalitesi
• JESD42 Elektrostatik boşalmaya hassas (ESDS) cihazların kullanılmasına ilişkin gereksinimler
• JESD43 Bileşen sorun analizi ve düzeltici faaliyet gereksinimleri
• JESD5 Gerilim regülatör dipotların sıcaklık katsayısı ölçümü
• JESD51-1 Entegre devre ısı ölçüm yöntemi - Elektriksel test yöntemi (tek yarı iletken cihaz)
• JESD51 Bileşen paketlerinin ısı ölçümü metodolojisi (tek yarı iletken cihaz)
• JESD51-3 Kurşunlu yüzeye montaj paketleri için düşük etkili ısı iletkenlik test kurulu
• JESD51-4A Termal test çipi kılavuzu (tel bağlantı ve flip çip)
• JESD51-5 Direkt termal bağlantı mekanizmasına sahip paketler için termal test kurulu standartlarının genişletilmesi
• JESD51-6 Entegre devre termal test yöntemi çevre koşulları - Zorlanmış konveksiyon (hareketli hava)
• JESD51-7 Kurşunlu yüzey montaj paketleri için yüksek etkili ısı iletkenlik test kurulu
• JESD51-8 Entegre devre termal test yöntemi çevre koşulları - Pano bağlantısı
• JESD52 Alçak gerilim TTL uyumlu CMOS mantık cihazlarının açıklaması için standart
• JESD54 54/74ABTXXX ve 74BCXXX TTL uyumlu BiCMOS mantık cihazlarının açıklaması için standart
• JESD55 Alçak gerilim TTL uyumlu BiCMOS mantık cihazlarının açıklaması için standart
• JESD59 Bağ teli modelleme standardı
• JESD6 Transistör kapasitansının küçük değerlerinin ölçülmesi
• JESD60A DC stres altında maksimum kapı akımında p-kanalı mosfet sıcak taşıyıcıdan kaynaklanan bozulmanın ölçülmesi için bir prosedür
• JESD61A.01 İzotermal elektro göçü test prosedürü
• JESD63 Akım yoğunluğu ve sıcaklık için elektro göç modeli parametrelerinin hesaplanması için standart yöntem
• JESD65B Standart mantık cihazları için eğrilik özelliklerinin tanımı
• JESD66 Tristör dalgalanma koruma cihazı için geçici gerilim bastırıcı standardı
• JESD67 Yapılandırılabilir iletişim voltajı, empedansı ve alıcı eşiğine sahip g/ç sürücüleri ve alıcılar
• JESD68.01 Ortak flaş arayüzü (CFI)
• JESD71 Standart test ve programlama dili (STAPL)
• JESD70 5 V toleranslı giriş ve çıkışlı 2,5 V BiCMOS mantık cihaz ailesi özellikleri
• JESD73 TTL uyumlu kontrol girişleri ile 5 V bus anahtarının açıklaması
• JESD8C.01 Nominal 3,0 V/3,3 V besleme dijital entegre devreler için arayüz standardı
• JESD80 2,5 V CMOS mantık cihazlarının açıklaması için standart
• JESD99-1 JESD99’a ek no 1 Analog-dijital ve dijital-analog dönüştürücüler için terimler, tanımlar ve harf sembolleri
• JESD51-9 Alan dizisi yüzeye montaj paketi ısı ölçümleri için test kartları
• JESD64-A 3,6 V CMOS toleranslı giriş ve çıkışlara sahip 2,5 V CMOS mantık cihazlarının açıklaması için standart
• JESD8-11A.01 JESD8’e ek no 11A.01 1,5 V +/- 0,1 V (normal aralık) ve 0,9 - 1,6 V (geniş aralık) sonlandırılmamış dijital entegre devreler için güç kaynağı voltajı ve arayüz standardı
• JESD51-10 Boyu delik çevre kurşunlu paket ısı ölçümleri için test kartları
• JESD76 1.8 V CMOS mantık cihazlarının tanımı
• JESD82 Kayıtlı DDR DIMM uygulamaları için CDCV857 PLL saat sürücüsünün tanımı
• JESD286-B Yarı iletken diyotların ileri anahtarlama özelliklerinin ölçülmesi için standart
• JESD7-A 54/74HCXXXX ve 54/74HCXXXXX yüksek hızlı CMOS cihazlarının açıklaması için standart
• JESD10 Düşük frekanslı güç transistörleri
• JESD8-12A.01 1,2 V +/- 0,1 V (normal aralığı) ve 0,8 - 1,3 V (geniş aralığı) güç kaynağı voltajı ve sonlandırılmamış dijital entegre devreler için arayüz standardı
• JESD76-2 1,2 V CMOS mantık cihazlarının standart açıklaması (normal aralıkta çalışma)
• JESD76-1 1,2 V CMOS mantık cihazlarının standart açıklaması (geniş aralıkta çalışma)
• JESD51-11 Delik düzeyi kurşunlu paket ısı ölçümü için test kartları
• JESD72A Polimerik malzemelerin değerlendirilmesi için test yöntemleri ve kabul prosedürleri
• JESD87 Bariyer malzemeler ile alüminyum metalizasyonlarının güvenilirlik değerlendirmesi için standart test yapısı
• JESD75-2 16 bitlik mantık fonksiyonları için standardize edilmiş küresel ızgara dizisi PIN çizimleri
• JESD75-3 8 bitlik mantık fonksiyonları için standardize edilmiş küresel ızgara dizisi PIN çizimleri
• JESD76-3 1,5 V CMOS mantık cihazlarının standart açıklaması
• JESD73-1 3,3 V NFET bus anahtar cihazlarının açıklaması için standart
• JESD73-2 entegre şarj pompalarına sahip 3,3 V NFET bus anahtar cihazlarının açıklaması için standart
• JESD28-1 JESD28’e ek no 1 N-kanal mosfet sıcak taşıyıcı veri analizi
• JESD8-13 400 MV (SLVS-400) için ölçeklendirilebilir düşük gerilim sinyalizasyonu
• JESD75-1 54 küresel paket kullanılarak 16, 18 ve 20 bitlik mantık fonksiyonları için standardize edilmiş küresel ızgara dizisi PIN dizisi
• JESD73-4 3877 - 2,5 V, çift 5-bit, 2-port, DDR FET anahtarının tanımı için standart
• JESD73-3 3867 - 2,5 V, tek 10-bit, 2-port, DDR FET anahtarının tanımı standart
• JESD8-14A.01 1,0 V +/- 0,1 V (normal aralık) ve 0,7 V - 1,1 V (geniş aralık) güç kaynağı voltajı ve sonlandırılmamış dijital entegre devreler için arayüz standardı
• JESD8-15A 1,8 V için STUB serisi sonlandırılmış mantık (SSTL-18)
• JESD22-B111A El elektronik ürünler için bileşenlerin kart seviyesinde düşme testi yöntemi
• JESD75-6 14-, 16-, 20- ve 24-LEAD lojik fonksiyonları için standardize edilmiş PSO-N/PQFN PIN çıkışları
• JESD75-4 1-, 2- ve 3-bitlik mantık fonksiyonları için küresel ızgara dizisi PIN çıkışı
• JESD96A.01 Radyo ön uç - baseband (RF-BB) arayüzü
• JESD24-12 İzoleli kapı iki kutuplu transistörler için ısı empedansı ölçümü - (Delta VCE(on) yöntemi)
• JESD75-5 1-, 2- ve 3-bitlik mantık fonksiyonları için standardize edilmiş SON/QFN paketi PIN çıkışları
• JESD202 Sabit akım ve sıcaklık gerilimi altında ara bağlantıların elektro göç hata süresi dağılımını karakterizasyonuna yönelik yöntem
• JESD8-17 1,8 V güç kaynağı noktadan nokta sürücüler için sürücü özellikleri
• JESD90 P-kanalı mosfet negatif BIAS sıcaklık dengesizliklerinin ölçülmesine yönelik bir prosedür
• JESD210A Çığ döküm diyot (ABD) geçici gerilim bastırıcılar
• JESD93A Hibritler/MCM
• JESD203 Çift kaynak seviyeli çeviri cihazları için standart test yükleri
• JESD15 Termal modellemeye genel bakış
• JESD209A-1 JESD209A ek no 1 Düşük güçlü çift veri hızı (LPDDR) SDRAM, 1,2 V g/ç
• JESD96A-1 JESD96A ek no 1 JEDEC standardı JESD96A için birlikte çalışabilirlik ve uygunluk teknik gereksinimleri - IEEE 802.11N ile kullanım için önerilen uygulama
• JESD15-1.01 Kompakt termal modele genel bakış
• JESD15-4 Delphi kompakt termal model kılavuzu
• JESD21C.6 JESD21C için geçerli diğer belgeler
• JESD84-B41 Multimedya kart (MMC) elektrik standart, standart kapasite (MMCA, 4.1)
• JESD84-B42 Multimedya kart (MMC) elektrik standartlı, yüksek kapasiteli (MMCA, 4.2)
• JESD82-21 Kayıtlı DDR2 DIMM uygulamaları için CUA845 PLL saat sürücüsünün tanımı standardı
• JESD82-14A.01 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTUB32868 1,8 V eşlikli yapılandırılabilir kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-10A.01 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTU32866 1,8 V eşlikli yapılandırılabilir kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-16A.01 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTUA32866 1,8 V parity testi ile yapılandırılabilir kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-18A Kayıtlı DDR2 DIMM uygulamaları için CUA877 ve CU2A877 PLL saat sürücülerinin tanımı için standart
• JESD82-4B.01 Yığınlı DDR DIMM uygulamaları için SSTV16859 2,5 V, 13-bit - 26-bit SSTL-2 kayıtlı arabellek tanımı standart
• JESD82-25.01 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTUB32866 1,8 V eşlikli yapılandırılabilir kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-5 JESD21-C PC133 kayıtlı DIMM özellikleri ile uyumlu 3,3 V, sıfır gecikmeli saat dağıtım cihazının tanımı standardı
• JESD82-13A.01 PC1600, PC2100, PC2700 ve PC3200 DDR DIMM uygulamaları için SSTVN16859 2,5-2,6 V 13-bit - 26-bit SSTL-2 kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-1A Kayıtlı PC1600, PC2100, PC2700 ve PC3200 DIMM uygulamaları için CVF857 PLL saat sürücüsünün tanımı
• JESD82-6A.01 1U Yığınlı DDR DIMM uygulamaları için SSTV32852 2,5 V 24-bit - 48-bit SSTL-2 kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-2 PC133 Kayıtlı DIMM uygulamaları için 3,3 V, 18 bit, LVTTL g/ç kaydının tanımı standardı
• JESD82-19A.01 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTUA32S865 ve SSTUA32D865 28-bit 1:2 eşlikli kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-3B.01 DDR DIMM uygulamaları için SSTV16857 2,5 V, 14-bit SSTL-2 kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-15 Kayıtlı DDR2 DIMM uygulamaları için CUA878 PLL saat sürücüsünün tanımı standardı
• JESD82-27.01 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTUB32869 eşlikli kayıtlı arabelleğin tanımı
• JESD82-7A.01 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTU32864 1,8 V yapılandırılabilir kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-17.01 2R X 4 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTUA32S868 ve SSTUA32D868 eşlikli kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-26.01 2R x 4 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTUB32868 eşlikli kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-9B.012R x 4 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTU32865 eşlikli kayıtlı arabellek tanımı
• JESD82-23.01 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTUA32S869 ve SSTUA32D869 eşlikli kayıtlı arabellek tanımı
• JESD282B.02 Silikon doğrultucu diyotlar
• JESD82-24.01 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTUB32865 28-bit 1:2 eşlikli kayıtlı arabellek tanımı
• JESD21-C AUS Yıllık güncelleme hizmeti
• JESD20 54/74ACXXXXX ve 54/74ACTXXXXX gelişmiş yüksek hızlı CMOS cihazlarının açıklamasına ilişkin standart
• JESD92 Ultra ince kapı dielektriğinin zamana bağlı dielektrik dökümünün karakterizasyonuna yönelik prosedür
• JESD8-2 JESD8’e ek no 2 Alçak gerilim emiter-kupleli mantık (ECL) entegre devreler için çalışma gerilimleri ve arayüz seviyeleri standardı
• JESD8-3A JESD8’e ek no 3A Dijital entegre devreler için Guning alıcı verici mantığı (GTL) düşük seviye, yüksek hızlı arayüz standardı
• JESD8-4 JESD8’e ek no 4 Merkezi-TAP-sonlandırılmış (CTT) arayüzü dijital entegre devreler için düşük seviye, yüksek hızlı arayüz standardı
• JESD8-6 JESD8’e ek no 6 Yüksek hızlı alıcı-verici mantığı (HSTL) - Dijital entegre devreler için 1,5 V çıkış bufon besleme gerilimi tabanlı arayüz standardı
• JESD8-7A JESD8’e ak no 7 1,8 V +/- 0,15 V (normal aralık) ve 1,2 V - 1,95 V (geniş aralık) güç kaynağı voltajı ve sonlandırılmamış dijital entegre devre için arayüz standardı
• JESD8-9B JESD8’e ek no 9B 2,5 Volt için STUB serisi sonlandırılmış mantık (SSTL-2)
• JESD22-B116B Tel bağ kesme testi
• JESD22-B112C Yüksek sıcaklıkta yüzeye monte entegre devrelerin paket çarpıklık ölçümü
• JESD8-23 Birleşik geniş güç kaynağı gerilim aralığı CMOS DC arayüzü, sonlandırılmayan dijital entegre devreler için standart
• JESD84-A41 Gömülü multimedya kart (e·MMC) ürün standardı, standart kapasite
• JESD8-19 POD18 - 1,8 V Pseudo açık tahliye g/ç
• JESD8-20A.01 POD15 - 1,5 V Pseudo açık tahliye g/ç
• JESD82-12A.01 DDR2 RDIMM uygulamaları için SSTU32S869 ve SSTU32D869 eşlikli kayıtlı arabellek tanımı
• JESD21-C Katı hal bellekler için yapılandırmalar
• JESD51-13 Isı ölçüm terimleri ve tanımları sözlüğü
• JESD22-C100-A Yüksek sıcaklık sürekliliği
• JESD82-11 Kayıtlı DDR2 DIMM uygulamaları için CU878 PLL saat sürücüsünün tanımı
• JESD82-8.01 Kayıtlı DDR2 DIMM uygulaması için CU877 PLL saat sürücüsünün tanımı standardı
• JESD8-18A FBDIMM özellikleri: 1,5 V’ta yüksek hızlı diferansiyel PTP bağlantısı
• JESD82-28A.01 Test için tamamen arabelleğe alınmış DIMM tasarımı, doğrulama için tasarım (DFx)
• JESD205 FBDIMM standardı: DDR2 SDRAM tam ara bellekli DIMM (FBDIMM) tasarım standardı
• JESD82-20A.01 FBDIMM: gelişmiş bellek arabelleği (AMB)
• JESD82-22.01 FBDIMM diagnostik duyuları için enstrümantasyon çipi veri sayfası
• JESD311A MF, HF ve VHF’de transistör gürültü şekli ölçümü
• JESD390A Yarı iletken mantık kaplama mikro devreleri için gürültü marjı ölçümleri için standart test prosedürü
• JESD75 32-bit mantık fonksiyonları için standardize edilmiş küresel ızgara dizisi PIN çizimleri
• JESD8-1 JESD8’e ek no 1 Alçak gerilim TTL uyumlu (LVTTL) VLSI dijital devreler için arayüz standardı
• JESD8-1A Nominal 0,3 V/3,3 V besleme dijital entegre devreler için arayüz standardı
• JESD84-A42 Gömülü multimedya kart (e·MMC) ürün standardı, yüksek kapasite
• JESD307 Gerilim regülatörü diyot gürültü voltaj ölçümü
• JESD320-A Diyot statik parametrelerinin ölçülmesi için koşullar
• JESD419-A Yarı iletken cihaz şartnamesinde kullanılacak değerlerin standart listesi ve kayıt formatı
• JESD321-C Yarı iletken cihazlarda benzer adlı klemens fonksiyonlarının numaralandırılması ve çok üniteli yarı iletken cihazlarda birimlerin tasarımlanması
• JESD8-16A 1,2 V için BUS ara bağlantı mantığı (BIC)
• JESD208 Özel DDR2-1066 SDRAM
• JESD51-31 Çoklu çip paketleri için termal test ortamı değişiklikleri
• JESD22-A111B Küçük yüzeye montajlı katı hal cihazların tam gövde lehimle daldırılması ile alt yan panoya bağlanma kapasitesinin belirlenmesine yönelik değerlendirme prosedürü
• JESD82-29A.01 DDR3/DDR3L/DDR3U RDIMM 1,5 V/1,35 V/1,25 V uygulamaları için SSTE32882 saat sürücüsünün eşlik ve dörtlü çip seçimleriyle kaydedilmesinin tanımı
• JESD22-B107D Markalama kalıcılığı
• JESD22-A105D Güç ve sıcaklık döngüsü
• JESD91B Elektronik cihaz arıza mekanizmaları için hızlandırma modellerinin geliştirilmesi yöntemi
• JESD22-B114B İşaret okunabilirliği
• JESD9C Mikroelektronik paketler ve kapaklar için denetim kriterleri
• JESD22-B105E Kurşun bütünlüğü
• JESD8-24 POD12 - 1,2 V Pseudo açık tahliye arayüzü
• JESD8-25 POD10-1.0 V Pseudo açık tahliye arayüzü
• JESD79-3-2 JESD79-3’e ek no 2 1,25 V DDR3U-800, DDR3U-1066, DDR3U-1333 ve DDR3U-1600
• JESD22-A106B.02 Termal şok
• JESD482-A Çeşitli tür küçük sinyal ve regülatör diyotlarda kullanılmak için tercih edilen değerlerin listesi
• JESD46D Katı hal tedarikçilerinin ürün/süreç değişikliklerine ilişkin müşteri bildirimi
• JESD204D Veri dönüştürücüler için seri arayüz
• JESD4 Tristörler ve doğrultucu diyotlar için ayrı yarı iletken paketlerin dış açıklık ve sızma mesafelerinin tanımı
• JESD51-32 Çoklu çip paketlerine uymak için jesd51 termal test kart standartlarına genişletme
• JESD89-2B Alfa kaynağı hızlandırılmış yumuşak hata oranı için test yöntemi
• JESD89-3B Işın hızlandırılmış yumuşak hata oranı için test yöntemi
• JESD89-1B Gerçek zamanlı yumuşak hata oranı için test yöntemi
• JESD16B Milyon başına parça (ppm) olarak ortalama çıkış kalite seviyelerinin değerlendirilmesi
• JESD671D Cihaz kalite sorunu analizi ve düzeltici faaliyet çözüm metodolojisi
• JESD51-2A Entegre devreler termal test yöntemi çevre koşulları - Doğal konveksiyon (duran hava)
• ESD219A-TT 64 GB - 128 GB SSD için test izi
• JESD219A-MT 128 GB SSD için ana izleme
• JESD219A.01 Katı hal sürücü (SSD) dayanıklılık iş yükleri
• JESD77D Ayrık yarı iletken ve optoelektronik cihazlar için terimler, tanımlar ve harf sembolleri
• JESD22-B113B El elektronik ürünler için SMT IC’lerin ara bağlantı güvenilirliği için kart seviyesinde döngüsel bükülme test yöntemi
• JESD51-51A Açık soğutma yüzeyli ışık yayın diyetlerin gerçek ısı direnci ve empedansının ölçülmesine yönelik elektriksel test yönteminin uygulanması
• JESD51-52A CIE 127-2007 toplam akış ölçümlerini açık soğutma yüzeyli LED’lerin ısı ölçümleriyle birleştirme kılavuzu
• JESD51-53A LED termal testi için terimler, tanımlar ve birimler sözlüğü
• JESD211.01 Zener ve voltaj regülatörü diyat değerlendirmesi doğrulama ve karakterizasyon testi
• JESD79F Çift veri hızı (DDR) SDRAM standardı
• JESD22-A108G Sıcaklık, BIAS ve çalışma ömrü
• JESD99C Mikroelektronik cihazlar için terimler, tanımlar ve harf sembolleri
• JESD22-A109B Hermetiklik
• JESD22-A107C Tuz atmosferi
• JESD226 RF esaslı yaşam (RFBL) testi
• JESD625C.01 Elektrostatik deşarja duyarlı (ESDS) cihazların kullanımına ilişkin gereksinimler
• JESD88F Katı hal teknolojisi terimler sözlüğü, 7. baskı
• JESD8-8 JESD8’e ek no 8 3,3 volt için STUB serisi sonlandırılmış mantık (SSTL-3) dijital entegre devreler için 3,3 V gerilim tabanlı arayüz standardı
• JESD22-B110B.01 mekanik şok - Cihaz ve alt montaj
• JESD22-A100E Yüzey yoğunlaşma ömür testi ile sıcaklık nem-BIAS
• JESD217A.01 SMT öncesi küresel ızgara dizisi paketlerinde boşlukları karakterizasyona yönelik test yöntemleri
• JESD670A Kalite sistemi değerlendirmesi
• JESD8-21C.01 POD135 - 1,35 V Pseudo açık tahliye g/ç
• JESD229 Geniş g/ç tek veri hızı (geniş g/ç SDR)
• JESD471 Elektrostatik hassas cihazlar için sembol ve etiket
• JESD659C ARIZA mekanizma odaklı güvenilirlik izleme
• JESD69C Silikon cihazların nitelenmesi için bilgi gereklilikleri
• JESD50C Maverick ürünlerinin ortadan kaldırılması ve dış değerlerin yönetimi için özel gereksinimler
• JESD51-12.01 Elektronik paket ısı bilgilerinin raporlanması ve kullanılmasına ilişkin kılavuz
• JESD22-C101F Mikroelektronik bileşenlerin eşiklerine dayanıklı elektrostatik boşaltma için alanda kaynaklanan şarjlı cihaz modeli test yöntemi
• JESD49B.01 İyi bilinen kalıp için satın alma standardı (KGD)
• JESD224A Evrensel flaş depolama (UFS) testi
• JESD51-14 Tek yoldan ısı akışı olan yarı iletken cihazların bağlantı-kasa ısı direncinin ölçülmesi için geçici çift arayüz test yöntemi
• JESD284-A Kolektör bazlı zaman sabiti ve ortak-emitör giriş empedansının dirençli kısmı için test yöntemleri
• JESD89B Yarı iletken cihazlarda alfa parçacığı ve dünya kozmik ışının kaynaklı yumuşak hatalarının ölçülmesi ve raporlanması
• JESD237 Güç amplifikatör modüllerinin güvenilirlik kalitesi
• JESD246A Afetlerde müşteri bildirim süreci
• JESD234 Elektronik cihazlarda proton radyasyonu tek olay etkilerinin ölçülmesi için test standardı
• JESD236-C Ayrık yarı iletken cihazların renk kodlaması
• JESD31F Ticari ve askeri yarı iletken cihazların dağıtıcıları için genel şartlar
• JESD84-A43 Gömülü multimedya kartı (e·MMC) e·MMC/kart ürün standardı, yüksek kapasite, güvenilir yazma, önyükleme ve uyku modları dahil (MMCA, 4.3)
• JESD84-C01 Multimedya kart (MMC) mekanik standart
• JESD84-C43 Gömülü multimedya kart (e·MMC) mekanik standart
• JESD213A Kalay (Sn) - Kurşun (Pb) içeriğinin belirlenmesi için bileşen kaplamalarının ve lehim alaşımlarının analizi için X-ışını floresan (XRF) kullanılan standart test yöntemi
• JESD221 Elektronik malzemelerde alfa radyasyon ölçümü
• JESD29-A Arıza mekanizmasına yönelik güvenilirlik izleme
• JESD8-22B İsteğe bağlı ODT ile HSUL-12 LPDDR2 ve LPDDR3 g/ç
• JESD22-B117B Lehim toplu makas
• JESD230F.01 NAND flash arayüzü birlikte çalışabilirliği
• JESD216F.02 Seri flaş keşfedilebilir parametreler (SFDP)
• JESD33B Metalizasyon hattının sıcaklığını belirlemek için sıcaklık direnç katsayısının ölçülmesi ve kullanılmasına yönelik standart yöntem
• JESD22-B109C FLIP CHIP germe çekme
• JESD22-A121A Kalay ve kalay alaşımı yüzey kaplamalarında bıyık büyümesinin ölçülmesi
• JESD22-A120C Elektronik cihazlarda kullanılan organik malzemelerde nem difüzivitesi ve suda çözünürlüğünün ölçülmesine yönelik test yöntemi
• JESD229-2 geniş g/ç 2
• JESD22-A104F.01 Sıcaklık döngüsü
• JESD8-5A.01 JESD8’e ek no 5 2,5 V 0,2 V (normal aralığı) ve 1,8 V ila 2,7 V (geniş aralığı) güç kaynağı voltajı ve sonlandırılmamış dijital entegre devre için arayüz standardı
• JESD201A Tamamlanmış yüzeylerin kalay bıyık duyarlılığı için çevresel kabul şartları
• JESD79-4D DDR4 SDRAM standardı
• JESD51-50A Tekli ve çoklu çipli, tekli ve çoklu pn-bağlantılı ışık yayın diyotların (LED’ler) ısı ölçümü için metodolojilere genel bakış
• JESD206.01 FBDIMM: mimarlık ve protokol
• JESD209B düşük güçlü çift veri hızı (LPDDR) SDRAM standardı
• JESD84-C44 Gömülü multimedya kart (e·MMC) mekanik standart, isteğe bağlı sıfırlama sinyali
• JESD209-2F Düşük güçlü çift veri hızı 2 (LPDDR2)
• JESD79-3F DDR3 SDRAM standardı
• JESD82-30.01 LRDIMM DDR3 bellek arabellek (MB)
• JESD57A Yarı iletken cihazlarda ağır iyon ışınlanmasından kaynaklanan tek olay etkilerinin yönetimine yönelik test prosedürü
• JESD22-B104C Mekanik şok
• JESD95-1 Katı hal ve ilgili ürünlerin ana hatlarına yönelik tasarım gereksinimleri: ayrı bir ürün olarak sonlandırılmıştır
• JESD74A Yarı iletken bileşenler için erken ömür arıza oranı hesaplama prosedürü
• JESD85A Uygunluk birimlerinde başarısızlık oranlarını hesaplama yöntemleri
• JESD86A Elektrik parametrelerinin değerlendirilmesi
• JESD8-26 1,2 V yüksek hızlı LVCMOS (HS-LVCMOS) arayüzü
• JESD48C Ürün durdurulması
• JESD22-A118B.01 Hızlandırılmış nem direnci - UNBIASED HAST
• JESD22-A102E Hızlandırılmış nem direnci - UNBIASED otoklav
• JESD22-A101D.01 Kararlı durum sıcaklık- Nem BIAS ömür testi
• JESD22-A117E elektrikle silinebilir programlanabilir ROM (EEPROM) programı/silme dayanıklılık ve veri saklama testi
• JESD214.01 Strese bağlı boşluk için bakır bağlantı metalizasyonlarının karakterizasyonuna yönelik sabit sıcaklık yaşlandırma yöntemi
• JESD8-28 300 mV arayüz
• JESD22-A114F Elektrostatik boşaltma (ESD) hassasiyet testi insan vücut modeli (HBM)
• JESD94B Bilgi tabanlı test metodolojisi kullanılarak uygulamaya özel yeterlilik
• JESD22-A103E.01 Yüksek sıcaklıkta depolama ömrü
• JESD22-B101D Dış görsel
• JESD22-A119A Düşük sıcaklıkta depolama ömrü
• JESD22-A113I Güvenilirlik testinden önce hermetik olmayan yüzeye montaj cihazlarının ön şartlandırılması
• JESD84-B51A Gömülü multimedya kart (e MMC), elektriksel standart (5.1)
• JESD235D Yüksek bant genişliği bellek (HBM) DRAM
• JESD241 BIAS sıcaklık değişikliklerinin gofret seviyesinde DC karakterizasyonu için prosedür
• JESD30L Elektronik cihaz paketleri için açıklamalı gösterim sistemi
• JESD212C.01 Grafik çift veri hızı (GDDR5) SGRAM standardı
• JESD243A Sahte elektronik parçalar: üreticiler için yayılmasının önlenmesi
• JESD220-2B Evrensel flaş depolama (UFS) kart uzatması, sürüm 3.0
• JESD220D Evrensel flaş depolama (UFS), sürüm 3.0
• JESD223D Evrensel flaş depolama ana sayfa denetleyici arayüzü (UFSHCI), sürüm 3.0
• JESD220-1A Evrensel flash depolama (UFS) birleşik bellek uzatması, sürüm 1.1
• JESD78F.02 IC mandallık testi
• JESD22-B102E Lehimlenebilirlik
• JESD209-3C Düşük güçlü çift veri hızı 3 SDRAM (LPDDR3)
• JESD84-A441 Gömülü multimedya kart (e MMC) e MMC/kart ürün standardı, yüksek kapasite, güvenilir yazma, önyükleme, uyku modları, çift veri hızı, çoklu bölüm desteği, güvenlik geliştirme, arka planda çalışma ve yüksek öncelikli kesinti (MMCA, 4.41) dahil
• JESD79-2F DDR2 SDRAM standardı
• JESD209-4D Düşük güçlü çift veri hızı 4 (LPDDR4)
• JESD79-3-1A.01 M JESD79-3’e ek no 1 1,35 V DDR3L-800, DDR3L-1066, DDR3L-1333, DDR3L-1600 ve DDR3L-1866
• JESD22-A110E.0 Yüksek hızlandırılmış sıcaklık ve nem stres testi (HAST)
• JESD223-1B evrensel flaş depolama ana sayfa denetleyici arayüzü (UFSHCI), birleşik bellek uzatması, sürüm 1.1A
• JESD22-B100B Fiziksel boyut
• JESD218B.02 Katı hal sürücü (SSD) gereksinimleri ve dayanıklılık test yöntemi
• JESD247 Çok kablolu çok seviyeli g/ç standardı
• JESD22-A122B Güç bisikleti
• JESD22-B115A.01 Lehim topu çekme
• JESD22-B108B Yüzeye montajlı yarı iletken cihazlar için eş düzeysellik testi
• JESD22-B118A Yarı iletken gofret ve kalıp arka taraf dış görsel muayene
• JESD232A.01 Grafik çift veri hızı (GDDR5X) SGRAM standardı
• JESD248A.01 DDR4 NVDIMM-N tasarım standardı
• JESD47L Entegre devrelerin stres testi tarafından niteliklendirilmesi
• JESD79-3-3 JESD79-3’e ek no 3 3D Yığınlı SDRAM
• JESD245E BYTE adreslenebilir enerji destekli arayüz
• JESD22-B103B.01 Titreşim, değişken frekans
• JESD22-A115C Elektrostatik boşaltma (ESD) hassasiyet test cihazı modeli (MM)
• JESD225 Evrensel flash depolama (UFS) güvenlik uzatması
• JESD227 Gömülü multimedya kart (e MMC) güvenlik uzatması
• JESD8-29 0,6 V alçak gerilim salınım sonlandırılmış mantığı (LVSTL06)
• JESD82-32A DDR4 veri arabelleği tanımı (DDR4DB02)
• JESD82-31A.01 DDR4 saat sürücüsünü kayıt (DDR4RCD02)
• JESD79-4-1B JESD79-4’e ek no 1 3D Yığınlı DRAM
• JESD209-4-1A JESD209-4’e ek no 1 Düşük güçlü çift veri hızı 4x (LPDDR4X)
• JESD250D Grafik çift veri hızı (GDDR6) SGRAM standardı
• JESD8-30A.01 POD125- 1,25 V Pseudo açık tahliye g/ç
• JESD8-31 1,8 V yüksek hızlı LVCMOS (HS-LVCMOS) arayüzü
• JESD220E Evrensel flaş depolama (UFS), sürüm 3.1
• JESD223C Evrensel flaş depolama ana sayfa denetleyici arayüzü (UFSHCI), sürüm 2.1
• JESD251C Kalıcı olmayan bellek cihazları için genişletilmiş seri çevre birimi arayüzü (xSPI)
• JESD251-1.01 JESD251 ek no 1 Opsiyonel x4 data strobe ile dörtlü g/ç
• JESD22-B119 Mekanik basınçlı statik gerilim test yöntemi
• JESD252.01 Seri flaş sıfırlama sinyalizasyon protokolü
• JESD209-5 Düşük güç çift veri hızı 5 (LPDDR5)
• JESD8-33 0,5 V alçak gerilim salınım sonlandırılmış mantığı (LVSTL05)
• JESD209-5A Düşük güçlü çift veri hızı (LPDDR5)
• JESD220-3A Evrensel flaş depolama (UFS) ana ana sayfa performansı güçlendirici (HPB) uzatma, sürüm 2.0
• JESD300-5B.01 SPD5118 HUB ve seri varlık algılama cihazı standardı
• JESD8-34 1,05V CMOS
• JESD301-1A.02 (rev 1.8.5) PMIC50x0 güç yönetimi IC standardı
• JESD79-5C DDR5 SDRAM
• JESD402-1A Bileşenler ve modüller için sıcaklık aralığı ve ölçümleri
• JESD220C-2.2 Evrensel flaş depolama, UFS 2.2
• JESD403-1C JEDEC modülü yan bant veri yolu (SidebandBus)
• JESD404-1 DDRx yayılı spektrum saatleme (SSC) standardı
• JESD304-4.01 DDR4 NVDIMM-P veri yolu protokolü
• JESD253.01 SSD Cihazları için muhafaza form faktörü, sürüm 1.0
• JESD260 Seri flaş cihazlar için tekrar oynatma korumalı monotik sayaç (RPMC)
• JESD209-5C Düşük güçlü çift veri hızı (LPDDR) 5/5X
• JESD233A XFM cihazı, sürüm 2.0
• JESD82-511 DDR5 kayıt saat sürücüsü tanımı (DDR5RCD01)
• JESD315 NVDIMM bellek aygıtları için yedek enerji modülü standardı (BEM)
• JESD302-1A TS511X, TS521X seri veri yolu termal sensör cihazı standardı
• JESD238A Yüksek bant genişliği bellek (HBM3) DRAM
• JESD305 DDR5 yükü azaltılmış (LRDIMM) ve kayıtlı çift sıralı bellek modülü (RDIMM) ortak özellikleri
• JESD82-521 DDR5 arabellek tanımı (DDR5DB01), rev 1.1
• JESD305-R8-RCC DDR5 RDIMM standardı, Ek C
• JESD305-R4-RCF DDR5 RDIMM standardı, Ek F
• JESD305-R8-RCE DDR5 RDIMM standardı Ek E
• JESD305-R8-RCA DDR5 RDIMM standardı Ek A
• JESD305-R8-RCD DDR5 RDIMM standardı Ek D
• JESD305-R4-RCB DDR5 RDIMM standardı Ek B
• JESD309 DDR5 küçük hatlı çift yerleşik bellek modülü (SODIMM) ortak standart
• JESD308A DDR5 Ara belleksiz çift sıralı bellek modülü (UDIMM) ortak standart
• JESD401-5B.01 DDR5 DIMM etiketleri
• JESD220C-2.1 Evrensel flash depolama (UFS), sürüm 2.1
• JESD308-U4-RCD DDR5 UDIMM ham kart Ek D
• JESD308-U0-RCA DDR5 UDIMM ham kart Ek A
• JESD308-U4-RCE DDR5 UDIMM ham kart Ek E
• JESD400-5B DDR5 seri varlık algılama (SPD) içerikleri
• JESD308-U0-RCC DDR5 UDIMM ham kart Ek C
• JESD308-U0-RCB DDR5 UDIMM ham kart Ek B
• JESD220F Evrensel flaş depolama, sürüm 4.0
• JESD231 Evrensel flash depolama (UFS) dosya tabanlı optimizasyonlar (FBO) uzantısı, sürüm 1.0
• JESD223E Evrensel flash depolama ana bilgisayar denetleyici arayüzü (UFSHCI), sürüm 4.0
• JESD22-B130 DRAM cihazları için X-ray toplam doz limitini belirlemek için test yöntemi
• JESD309-S0-RCB DDR5 SODIMM ham kart Ek B, sürüm 1.0
• JESD309-S4-RCD DDR5 SODIMM ham kart Ek D, sürüm 1.0
• JESD309-S0-RCA DDR5 SODIMM ham kart Ek A, sürüm 1
• JESD309-S0-RCC DDR5 SODIMM ham kart Ek C, sürüm 1
• JESD301-2 PMIC5100 güç yönetimi IC standardı, rev 1.03
• JESD309-S4-RCE DDR5 SODIMM ham kart Ek E
• JESD261 Seri NOR güvenlik donanımı soyutlama katmanı
• JESD262 Çevre uyumluluk beyanı sapmalarına ilişkin müşteri bildirimi
• JESD312 Otomotiv katı hal sürücüsü (SSD) cihaz standardı
• JESD22-B120 Tel bağ çekme testi yöntemleri
• JESD254 Güvenli seri flaş veri yolu işlemleri
• JESD82-512 DDR5 kayıt saat sürücüsü tanımı (DDR5RCD02)
• JESD405-1A JEDEC® Bellek modülü etiketi
• JESD82-513 DDR5 kayıt saat sürücüsü tanımı (DDR5RCD03)
• JESD317A JEDEC® Bellek modülü referans tabanı standardı
• JESD82-531A.01 DDR5 saat sürücüsü tanımı (DDR5CKD01)
• JESD220-4 Sürüm 1.01 Evrensel flash depolama (UFS) dosya tabanlı optimizasyonlar (FBO) uzantısı
• JESD220-5 UFS için bölgelenmiş depolama
• JESD22-B121 Karasal uygulamalarda X ışınına maruz kalmadan toplam iyonlaştırıcı doz (TID) için test yöntemi
• JESD318 ver 1.02 Sıkıştırmaya eklenmiş bellek modülü (CAMM2) ortak standart
• JESD324 DDR5 saat hızına sahip küçük hatlı çift sıralı bellek modülü (CSODIMM) ortak özellik
• JESD323 DDR5 saatli ara belleksiz çift sıralı bellek modülü (CUDIMM) ortak özellikleri
• JESD204C.1 Veri dönüştürücüler için seri arayüz
• JESD239.01 Grafik çift veri hızı 7 SGRAM standardı (GDDR7)
• JESD255 Geçici olmayan SPI flash bellekler (QPI ve xSPI) için SPI güvenlik uzantıları (CRC)
• JESD263 Kapı dielektrik arızası
• JESD301-4 PMIC5020 Güç yönetimi IC standardı
• JESD82-514 DDR5 kayıt saat sürücüsü tanımı (DDR5RCD04)

Kuruluşumuz, çeşitli sektörlerdeki işletmeler için verdiği sayısız test, ölçüm, analiz ve değerlendirme çalışmaları arasında, eğitimli ve uzman bir kadro ve gelişmiş teknolojik donanımı ile, JEDEC standartlarına uygun test hizmetleri de vermektedir.