Thử nghiệm linh kiện bán dẫn MIL-STD 750

Phòng thí nghiệm EUROLAB có đội ngũ chuyên gia và thiết bị công nghệ thử nghiệm các thiết bị bán dẫn theo tiêu chuẩn MIL-STD 750, bao gồm các thử nghiệm môi trường cơ bản và thử nghiệm vật lý và điện để xác định khả năng chống lại tác hại của các yếu tố tự nhiên và điều kiện xung quanh các hoạt động quân sự. Theo mục đích của MIL STD 750, thuật ngữ "thiết bị" bao gồm các hạng mục như bóng bán dẫn, điốt, bộ điều chỉnh điện áp, bộ chỉnh lưu, điốt đường hầm và các bộ phận liên quan khác. Tiêu chuẩn này chỉ nhằm áp dụng cho các thiết bị bán dẫn.

MIL-STD-750 (F)thiết lập các phương pháp và quy trình thống nhất để thử nghiệm các thiết bị bán dẫn thích hợp để sử dụng trong các hệ thống điện tử quân sự và hàng không vũ trụ. Các phương pháp và quy trình trong các phần khác nhau của tiêu chuẩn này bao gồm các thử nghiệm cơ bản về môi trường, vật lý và điện để xác định khả năng chống lại các tác hại của các yếu tố tự nhiên và điều kiện xung quanh các hoạt động quân sự và không gian.

Kiểm tra Thành phần Nâng cao đã được UAF (UAF) kiểm tra Tuân thủ Phòng thí nghiệm để kiểm tra sản phẩm MIL-SPEC do Chính phủ Hoa Kỳ cung cấp. EUROLAB là một trong số ít các phòng thí nghiệm đủ điều kiện và được phê duyệt để xử lý và thử nghiệm các thành phần và là cơ quan đánh giá sự phù hợp với công nhận thử nghiệm để thử nghiệm MIL-STD-750 cũng như các phương pháp MIL-STD-202 và MIL-STD-883.

Các tiêu đề theo các mục tiêu chuẩn;

Thử nghiệm môi trường (loạt 1000)

MIL-STD-750 Số phương pháp 1001.2 Áp suất khí quyển (thấp)
MIL-STD-750 Số phương pháp 1011.1 Ngâm
MIL-STD-750 Số phương pháp 1015.1 Quy trình chiếu xạ dòng điện quang sơ cấp trạng thái ổn định (chùm điện tử)
MIL-STD-750 Số phương pháp 1016 Điện trở cách điện
MIL-STD-750 Phương pháp Số 1017.1 Bức xạ neutron
MIL-STD-750 Phương pháp số 1018.3 Phân tích khí bên trong
MIL-STD-750 Phương pháp Số 1019.5 Quy trình chiếu xạ tổng liều trạng thái ổn định
MIL-STD-750 Số phương pháp 1020.2 Phân loại độ nhạy phóng tĩnh điện (ESDS)
MIL-STD-750 Số phương pháp 1021.3 Khả năng chống ẩm
Mã số phương pháp MIL-STD-750 1022.5 Khả năng chống dung môi
MIL-STD-750 Số phương pháp 1026.5 Tuổi thọ hoạt động ở trạng thái ổn định
MIL-STD-750 Phương pháp Số 1027.3 Tuổi thọ hoạt động ở trạng thái ổn định (gói ví dụ)
MIL-STD-750 Phương pháp Số 1031.5 Tuổi thọ nhiệt độ cao (không hoạt động)
MIL-STD-750 Số phương pháp 1032.2 Tuổi thọ nhiệt độ cao (không vận hành) (gói mẫu)
MIL-STD-750 Phương pháp Số 1033 Độ ổn định rò rỉ điện áp ngược
MIL-STD-750 Số phương pháp 1036.3 Tuổi thọ hoạt động gián đoạn
MIL-STD-750 Số phương pháp 1037.2 Tuổi thọ hoạt động gián đoạn (gói mẫu)
MIL-STD-750 Phương pháp số 1038.4 Đốt cháy (đối với điốt, bộ chỉnh lưu và bộ chỉnh lưu)
MIL-STD-750 Phương pháp số 1039.4 Đốt cháy (cho bóng bán dẫn)
MIL-STD-750 Phương pháp số 1040 Đốt (cho thyristor (bộ chỉnh lưu có điều khiển)
MIL-STD-750 Số phương pháp 1041.3 Môi trường muối (ăn mòn)
MIL-STD-750 Phương pháp số 1042.3 Thử nghiệm đốt cháy và tuổi thọ cho MOSFET nguồn hoặc bóng bán dẫn lưỡng cực cổng cách điện (IGBT)
MIL-STD-750 Phương pháp số 1046.3 Phun muối (ăn mòn)
MIL-STD-750 Phương pháp số 1048 Ngăn chặn Cuộc sống
MIL-STD-750 Số phương pháp 1049 Tuổi thọ khối (gói mẫu)
MIL-STD-750 Phương pháp Số 1051.6 Chu kỳ nhiệt độ (không khí)
MIL-STD-750 Phương pháp số 1054.1 Thử nghiệm ứng suất môi trường trong chậu
MIL-STD-750 Số phương pháp 1055.1 Chu kỳ nhiệt độ làm việc được giám sát
MIL-STD-750 Phương pháp số 1056.7 Sốc nhiệt (lỏng sang lỏng)
MIL-STD-750 Phương pháp số 1057.1 Khả năng chống nứt kính
MIL-STD-750 Phương pháp Số 1061.1 Đo nhiệt độ, vỏ và đinh tán
MIL-STD-750 Số phương pháp 1066.1 Điểm sương
MIL-STD-750 Phương pháp số 1071.8 Con dấu kín
MIL-STD-750 Phương pháp Số 1080 Kiểm tra cháy sự kiện đơn và kiểm tra phá cửa sự kiện đơn

Kiểm tra tính chất cơ học (sê-ri 2000)

MIL-STD-750 Method Number 2005.2 Thử nghiệm kéo dây dẫn hướng trục
MIL-STD-750 Số phương pháp 2006 Gia tốc không đổi
Số phương pháp MIL-STD-750 2016.2 Sốc
Mã số phương pháp MIL-STD-750 2017.2 Tính toàn vẹn của bộ chèn khuôn
MIL-STD-750 Số phương pháp 2026.11 Độ hòa tan
MIL-STD-750 Số phương pháp 2031.3 Độ bền nhiệt hàn
MIL-STD-750 Số phương pháp 2036.4 Nguồn điện đầu cuối
MIL-STD-750 Số phương pháp 2037.1 Độ bền liên kết
MIL-STD-750 Số phương pháp 2046.2 Rung động mỏi
MIL-STD-750 Số phương pháp 2051.1 Tiếng ồn rung
MIL-STD-750 Phương pháp số 2052.4 Thử nghiệm phát hiện tiếng ồn va chạm hạt (PIND)
MIL-STD-750 Số phương pháp 2056 Rung, tần số thay đổi
MIL-STD-750 Phương pháp Số 2057.2 Rung, tần số thay đổi (được giám sát)
Mã số phương pháp MIL-STD-750 2066 Kích thước vật lý
MIL-STD-750 Method Number 2068 Hình ảnh bên ngoài cho các điốt chì hướng trục, không có khe hở, trong suốt, không có khe hở
MIL-STD-750 Method Number 2069.2 Hình ảnh bìa trước, MOSFETs nguồn
Số phương pháp MIL-STD-750 2070.2 Bóng bán dẫn đa chip và rời vi sóng trực quan có nắp trước
MIL-STD-750 Phương pháp số 2071.6 Kiểm tra bằng mắt và cơ học
MIL-STD-750 Phương pháp Số 2072.6 Kiểm tra bóng bán dẫn trực quan bên trong (nắp trước)
MIL-STD-750 Phương pháp số 2073.1 Kiểm tra bên trong khuôn (điốt bán dẫn)
Mã số phương pháp MIL-STD-750 2074.4 Kiểm tra bằng mắt bên trong (điốt bán dẫn rời rạc)
MIL-STD-750 Phương pháp số 2075.1 Chưa xác minh thiết kế trực quan bên trong
MIL-STD-750 Số phương pháp 2076.3 Chụp X quang
MIL-STD-750 Phương pháp số 2077.3. Kính hiển vi điện tử quét (SEM) khảo sát quá trình kim loại hóa
MIL-STD-750 Method Number 2078 Hình ảnh bên trong cho điốt / bộ chỉnh lưu có dây cứng
MIL-STD-750 Phương pháp Số 2081 Chuyển tiếp không ổn định, sốc (FIST)
MIL-STD-750 Phương pháp Số 2082 Mất ổn định ngược, chập chờn (BIST)
MIL-STD-750 Phương pháp Số 2101.1 Quy trình DPA cho Điốt
MIL-STD-750 Số phương pháp 2102 DPA cho các thiết bị có dây
MIL-STD-750 Phương pháp số 2103 Xác minh thiết kế cho các thiết bị gắn trên bề mặt

MIL-STD-750 được sửa đổi định kỳ. Các phiên bản hiện tại của tiêu chuẩn bao gồm MIL-STD-750 F, MIL-STD-750 E, MIL-STD-750 D, MIL-STD-750 C, MIL-STD-750 B, MIL-STD-750 A, MIL. -STD-750/5, MIL-STD-750/4, MIL-STD-750/3, MIL-STD-750/2 và MIL-STD-750/1.