Phân tích XRD (nhiễu xạ tia X)

Nhiễu xạ tia X (XRD) là một phương pháp phân tích được sử dụng rộng rãi để đánh giá độ kết tinh và cấu trúc của các mẫu rắn.

Trong kỹ thuật này, hiện tượng nhiễu xạ tia X tinh thể là kết quả của một quá trình tán xạ, trong đó tia X bị tán xạ bởi các điện tử của nguyên tử có trong mẫu mà không làm thay đổi bước sóng. Vì bước sóng của tia X có thể so sánh với khoảng cách giữa các nguyên tử của một chất rắn kết tinh, nên tia X tới sẽ nhiễu xạ theo những hướng cụ thể. Dạng nhiễu xạ, được cho bởi các vị trí và cường độ của các hiệu ứng nhiễu xạ, là một đặc tính vật lý cơ bản của vật liệu và không chỉ cho phép mô tả mà còn bộc lộ đầy đủ cấu trúc của nó.

Phân tích nhiễu xạ bột tia X thường được sử dụng để xác định các vật liệu tinh thể chưa biết, chẳng hạn như khoáng chất và các hợp chất vô cơ. Việc xác định các chất rắn không xác định là rất quan trọng đối với các nghiên cứu về địa chất, khoa học môi trường, khoa học vật liệu, kỹ thuật và sinh học.

Các lĩnh vực ứng dụng khác là: xác định đặc tính của vật liệu kết tinh, xác định các khoáng chất hạt mịn như đất sét và đất sét lớp hỗn hợp khó phát hiện bằng quang học, xác định kích thước ô đơn vị và đo độ tinh khiết của mẫu.

Điểm mạnh của phép phân tích nhiễu xạ tia X là:

• Kỹ thuật mạnh mẽ và nhanh chóng để xác định một khoáng chất không xác định (kết quả tối đa trong 20 phút)
• Trong hầu hết các trường hợp, nó cung cấp một phép xác định khoáng chất chính xác
• Cần chuẩn bị mẫu tối thiểu
• Các đơn vị XRD có sẵn rộng rãi
• Diễn giải dữ liệu tương đối đơn giản

Các hạn chế của kỹ thuật này như sau:

• Vật liệu đồng nhất và một pha là tốt nhất để xác định một chất không xác định
• Các hợp chất vô cơ phải có quyền truy cập vào tệp tham chiếu tiêu chuẩn
• Yêu cầu một phần mười gam vật liệu được nghiền thành bột
• Giới hạn phát hiện đối với các vật liệu hỗn hợp là khoảng 2 phần trăm của mẫu
• Đối với các phép xác định ô đơn vị, các mô hình lập chỉ mục cho các hệ tinh thể không đẳng áp rất phức tạp.
• Đối với phản xạ góc cao, lớp trên cao có thể hình thành và xấu đi

Tóm lại, với kỹ thuật nhiễu xạ tia X, khoảng cách trung bình giữa các lớp hoặc hàng nguyên tử được đo, xác định hướng của một tinh thể hoặc hạt đơn, cấu trúc tinh thể của một vật liệu chưa biết, và kích thước, hình dạng và sức căng bên trong. của các vùng tinh thể nhỏ được đo.

Tổ chức của chúng tôi cũng cung cấp dịch vụ phân tích XRD (nhiễu xạ tia X) với đội ngũ chuyên gia được đào tạo và trang thiết bị công nghệ tiên tiến, trong số rất nhiều nghiên cứu thử nghiệm, đo lường, phân tích và đánh giá mà nó cung cấp cho các doanh nghiệp trong các lĩnh vực khác nhau.