Kính hiển vi điện tử quét SEM

Kính hiển vi điện tử quét hoặc phân tích SEM cung cấp hình ảnh độ phân giải cao hữu ích để đánh giá nhiều loại vật liệu cho các vết nứt bề mặt, khuyết tật, chất gây ô nhiễm hoặc ăn mòn. Nhờ phân tích SEM và EDX, các chuyên gia luyện kim của chúng tôi cung cấp một đánh giá toàn diện về các tính chất vật liệu và cung cấp cho các nhà sản xuất thông tin có giá trị.

Phân tích SEM là một công cụ nghiên cứu mạnh mẽ sử dụng chùm electron tập trung để tạo ra các hình ảnh phức tạp, có độ phóng đại cao về địa hình bề mặt của mẫu. Khi một khu vực quan tâm đã được xác định trên mẫu và được đánh giá bằng SEM, các chuyên gia của chúng tôi có thể tìm hiểu sâu hơn về các chi tiết của vật liệu bằng phương pháp quang phổ tia X khuếch tán năng lượng hoặc phân tích EDX.

Tại sao phân tích SEM?

Thực hiện phân tích hình ảnh bề mặt bằng kính hiển vi điện tử quét góp phần xác định các chất gây ô nhiễm hoặc các hạt chưa biết, nguyên nhân gây ra sự cố và tương tác giữa các vật liệu.

Ngoài việc đánh giá bề mặt, phân tích SEM được sử dụng để mô tả đặc tính hạt, chẳng hạn như dư lượng hao mòn được tạo ra trong quá trình thử nghiệm hao mòn cơ học. Phân tích SEM của chúng tôi hỗ trợ độ phóng đại cao, hình ảnh độ phân giải cao, xác định số lượng, kích thước và hình thái của các hạt nhỏ, cho phép khách hàng hiểu được các đặc tính hao mòn của vật liệu.

Kết hợp phân tích SEM và EDX

Quang phổ tia X khuếch tán năng lượng, còn được gọi là EDX, EDS hoặc EDAX, cung cấp sự hiểu biết tốt hơn về vật liệu bề mặt trong quá trình phân tích SEM. Phân tích EDX được sử dụng để thu được thành phần nguyên tố của mẫu và cung cấp kết quả định lượng nhiều hơn so với phân tích SEM chỉ cung cấp. Sự kết hợp của phân tích SEM và EDX cung cấp thành phần hóa học và nghiên cứu cơ bản và cung cấp một đánh giá luyện kim toàn diện.