IEC 61300-3-6 Thiết bị kết nối sợi quang và các thành phần thụ động - Phần 3-2: Suy hao trở lại

Phòng thí nghiệm EUROLAB cung cấp dịch vụ thử nghiệm và tuân thủ trong phạm vi của tiêu chuẩn IEC 61300-3-6. Phần này của tiêu chuẩn IEC 61300 cung cấp các quy trình để đo suy hao hồi lưu (RL) của thiết bị sợi quang được thử nghiệm (DUT). Như được sử dụng trong tiêu chuẩn này, RL là tỷ số giữa công suất (Pi) đến hoặc từ DUT trên tổng công suất (Pr) được phản ánh bởi DUT, được biểu thị bằng decibel.

Bốn phương pháp đo suy hao quang trở lại sẽ được trình bày:

IEC 61300-3-6 Phương pháp 1

Kỹ thuật này gần nhất với định nghĩa lý thuyết về tổn thất hoàn vốn được đưa ra bởi phương trình (1). Nó đo công suất đến trực tiếp và công suất phản xạ. Nó không bị ảnh hưởng bởi quá trình xử lý dữ liệu công cụ và cung cấp các giá trị đo lường tuyệt đối không liên quan đến phản xạ tham chiếu (kỹ thuật A). Phương pháp này có một số yếu tố hạn chế: nó không thể phân giải không gian hai phản xạ khác nhau trên đường và phạm vi động của nó bị giới hạn bởi các đặc tính của thiết bị phân nhánh và khả năng triệt tiêu các phản xạ ngoài phạm vi đó từ DUT.

IEC 61300-3-6 Phương pháp 2

Phương pháp này cho phép đo RL từ các điểm phản xạ trên đường quang sử dụng thiết bị OTDR, với độ phân giải không gian trong dải mét và dải động hơn 75 dB (tùy thuộc vào độ rộng xung).

IEC 61300-3-6 Phương pháp 3

Mục đích của phương pháp này là để đo các cấu hình phản xạ của các thiết bị quang đơn mode với độ phân giải không gian micromet và dải động cao (> 90 dB) bằng cách sử dụng nhiễu quang kết hợp thấp.

Biên dạng phản xạ được định nghĩa là sự phân bố phản xạ tại các bề mặt cuối riêng lẻ và / hoặc các điểm tiếp giáp trong các thiết bị quang học một chế độ. Khi phản xạ tại một điểm nhất định là −R (dB), suy hao hồi lưu tại điểm đó là R (dB). Phương pháp này đo độ phản xạ tại một điểm bằng cách phát hiện cường độ của tín hiệu nhịp được tạo ra bởi sự giao thoa quang học giữa ánh sáng phản xạ và ánh sáng tham chiếu. Khi phân tích một thành phần có phản xạ khuếch tán, mỗi phản xạ có thể được xác định và định vị, miễn là độ phân tách của chúng lớn hơn độ phân giải không gian của hệ thống đo lường.

IEC 61300-3-6 Phương pháp 4

Mục đích của quy trình này là đo sự suy hao trở lại của các thiết bị quang đơn mode có độ phân giải không gian trong dải centimet và dải động cao (> 70 dB) bằng phép đo phản xạ miền tần số quang.

Một trong những lợi ích chính của kỹ thuật này là khả năng phân giải không gian phản xạ mong muốn mà không có bất kỳ vùng chết nào khỏi phản xạ không mong muốn, chẳng hạn như tất cả các đầu nối hoặc cổng chưa kết thúc trên DUT. Ngoài ra, phương pháp OFDR có độ tin cậy cao và thiết bị có thể nhỏ gọn.

Phép đo trong miền tần số dựa trên khả năng biến đổi thông tin trong miền thời gian thông qua phép biến đổi Fourier ngược. Bằng cách này, với một nguồn được điều chế từ một số kHz đến 1 GHz, có thể phân giải hai điểm phản xạ cách nhau vài cm trên một đường quang.

Trong trường hợp DUT là đầu nối được gắn ở một đầu của linh kiện, thì phích cắm giao phối tham chiếu phải được coi là một nửa của kết nối DUT ở phía kết nối tạm thời (TJ) và có cùng độ phủ bề mặt cuối và hiệu suất tối thiểu như các đầu nối.

Trong trường hợp DUT là toàn bộ cụm linh kiện được kết thúc bằng bện có hoặc không có đầu nối, phích cắm tham chiếu bện và bộ điều hợp tham chiếu khi cần thiết phải được thêm vào các cổng đầu kết nối này để tạo ra cụm đầu nối đầy đủ bện. Khi đó, phích cắm giao phối tham chiếu sẽ được coi là một nửa TJ và sẽ có cùng độ phủ bề mặt cuối và hiệu suất tối thiểu như các đầu nối được đo.

EUROLAB, với hơn 25 năm kinh nghiệm, các phòng thí nghiệm hiện đại được công nhận và đội ngũ chuyên gia, giúp bạn có được kết quả chính xác và nhanh chóng. Đừng ngần ngại liên hệ với phòng thí nghiệm của chúng tôi cho các yêu cầu thử nghiệm và chứng nhận của bạn.