IEC EN 60793-1-43 光纖 - 數值孔徑測量測試

電氣電子測試

IEC EN 60793-1-43 光纖 - 數值孔徑測量測試

EUROLAB 擁有最先進的認可實驗室和專家團隊,在 IEC EN 60793-1-43 測試範圍內提供精確和快速的測試服務。 本標準規定了測量光纖數值孔徑的統一要求,從而有助於商業用途光纖和光纜的檢驗。

IEC EN 60793-1-43 光纖 - 數值孔徑測量測試

多模光纖 A1、A2、A3 和 A4 類的數值孔徑 (NA) 是定義光纖聚光能力的重要參數。 它用於預測啟動效率、接頭處的接頭損失和微觀/宏觀粘合性能。

數值孔徑是通過測量遠場模式 (NAff) 來定義的。 在某些情況下,文獻使用理論數值孔徑 (NAth),它可以通過測量核心和塗層之間的折射率差異來確定。 理想情況下,這兩種方法應該產生相同的值。

IEC 60793-1-43 的第二版以及 IEC 60793-4X 系列中的其他標準取消並取代了 2001 年發布的 IEC 60793-1-43 的第一版並創建了技術修訂版。

EUROLAB 協助製造商通過 IEC EN 60793-1-43 測試合規性。 我們的測試專家以其專業的工作使命和原則,在我們的實驗室為您、我們的製造商和供應商提供最好的服務和受控的測試過程。 由於這些服務,企業可以獲得更有效、高性能和高質量的測試服務,並為客戶提供安全、快速和不間斷的服務。

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