掃描電子顯微鏡或SEM分析可提供高分辨率的成像,可用於評估各種材料的表面破裂,缺陷,污染物或腐蝕。 借助SEM和EDX分析,我們的冶金專家可以對材料性能進行全面評估,並為製造商提供有價值的信息。
SEM分析是一種功能強大的研究工具,它使用聚焦的電子束產生樣品表面形貌的複雜,高放大倍率的圖像。 一旦在樣品上確定了感興趣的區域並使用SEM進行了評估,我們的專家便可以使用能量擴散X射線光譜或EDX分析深入研究材料的細節。
使用掃描電子顯微鏡對錶面進行視覺分析有助於檢測污染物或未知顆粒,故障原因以及材料之間的相互作用。
除表面評估外,SEM分析還用於表徵顆粒,例如在機械磨損測試過程中產生的磨損殘留物。 我們的SEM分析支持高倍率,高分辨率成像,確定小顆粒的數量,大小和形態,使客戶能夠了解其材料的磨損性能。
能量擴散X射線光譜學(也稱為EDX,EDS或EDAX)可在SEM分析過程中更好地了解表面材料。 EDX分析用於獲得樣品的元素組成,並且比僅由SEM分析提供的結果更具定量結果。 SEM和EDX分析的結合可提供化學成分和基礎研究,並提供全面的冶金學評估。
您可以要求我們填寫表格進行預約,獲取更多詳細信息或要求評估。