X射線熒光分析

X射線熒光（XRF）分析是一種簡單，高度靈敏的方法，用於確定材料的化學成分。 XRF由於其非破壞性的特性而成為一種流行的分析工具，幾乎不需要或只需很少的準備就可以測試材料，並且適合於固體，液體或粉末樣品。

X射線熒光樣品使用一種設備通過X射線波對其進行重構。 根據樣品中原子的反饋，機器可以計算材料類型。 由於每種元素在輻照時均表現出獨特的特性，因此可以檢測到單個原子，從而導致化學成分完全分解。 對於使用X射線熒光進行塗層厚度測量，通常使用輔助設備（例如二極管）來提高精度。

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便攜式XRF分析

根據項目要求，可以在測試現場和實驗室中完成。 當在現場執行時，手持式分析儀將光束髮送到物料，然後將反饋發送到便攜式機器，該機器產生物料類型和數量的讀數。

便攜式XRF可以報告多種金屬，包括痕量元素和主要成分。 該方法的結果幾乎是瞬時的，這是檢查結構或單個零件的非常有效的方法。

實驗室XRF分析

實驗室中的X射線熒光分析是由更傳統的台式分析儀執行的。 使用這種方法，樣品必須具有合適的尺寸以適合設備的尺寸要求。 無需在室外進行測試，而是將材料裝入試管並進行輻照。

儘管此方法比現場分析需要更長的時間，但它可以涵蓋更廣泛的元素範圍，並且通常更為詳細。 當需要對一種以上元素進行更準確和全面的分析時，通常首選實驗室中的XRF。