污染分析通常表明產品中是否存在未知物質，該異物的化學和物理結構，該物質如何以及如何污染您的產品，該物質在短期，中期和長期內對產品造成的損害等。 這樣做是為了獲得諸如此類問題的詳細答案。

在污染分析中，協議包括四個部分：

• 目視檢查
• 傅里葉變換紅外（FTIR）光譜進行有機分析測試
• 掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜儀（SEM / EDS）的分析測試
• 離子色譜法進行離子分析測試（IC）

污染分析方法

目視檢查

任何測試研究的第一步都應該始終是用肉眼和體視顯微鏡（或類似儀器）進行全面檢查。

通過查看未知污染物可以收集大量信息。 進行審核時，請記住以下一些常見問題：

• 物質的形式是什麼？ 固體，液體，凝膠等 你呢？ 它的質地是什麼？
• 物品是什麼顏色？
• 物質在測試樣品的特定區域中還是隨機分佈？
• 這是這種標本的孤立事件還是“廣泛傳播”？

儘管在分析開始時它們似乎微不足道，但這些問題的答案可以幫助您在分析測試完成後找到最終答案。

一個真實的例子：對一種未知的固體“藍色”材料的分析發現該物質是銅基和無機的。 通過SEM / EDS分析該物質可檢測到銅和氧，但由於EDS無法檢測到氫，因此無法區分氧化銅（II）-CuO-和氫氧化銅（II）-Cu（OH）2。

當浸入某些參考材料中且氧化物為黑色/棕色時，可以看出氫氧化物為藍色/藍綠色。 從這裡開始，顏色的簡單視覺特徵是“這是什麼？” 回答問題。

傅立葉變換紅外（FTIR）光譜

˚F 有機分析測試是一種標準分析技術，用於定性確定有機材料的存在。 通過FTIR分析，可以回答許多新問題來識別污染物。

• 該物質是有機的還是無機的？
• 如果是有機的，那麼有哪些特徵性的化學結合峰？
• 在將此光譜與一個人的光譜庫進行比較時，是否找到光譜匹配？
• 匹配光譜對眼前的問題有意義嗎？

兩種分析技術中的第一種可以提供有關該物質的大量信息，尤其是如果它是基於有機物的，有時甚至是“這是什麼？”。 可以直接回答問題。

掃描電子顯微鏡/能量分佈器X射線光譜儀（SEM / EDS）

SEM / ESD 小號 元素分析測試 實際上是兩種技術的結合。 SEM部分是一種視覺方法，可以通過肉眼或光學顯微鏡稍微觀察樣品。 SEM產生的圖像是灰度圖像，基於位於研究區域中的電子-較重的元素顯得更亮，較亮的元素看起來更暗。

有時用SEM檢測到肉眼看不到的污染物。 例如，可以在SEM中看到光學透明的材料。 此外，在SEM中比光學顯微鏡更容易觀察到細小的殘留物或只能在高放大倍數下才能看到的殘留物。

EDS分析是SEM / EDS的另一面，它是一種標準的分析技術，可識別感興趣的特定區域中的元素種類。 

從該光譜中，可以獲得其感興趣區域中可用的任何元素類型（元素週期表中的碳上方）的定量結果。 此外，這些附加信息還可以幫助回答更多問題以識別污染物：

• 該物質是有機的還是無機的？
• 材料是金屬的嗎？
• 某些元素的含量較高嗎？
• 檢測到的元素是否暗示特定的一種或多種化學化合物？

與FTIR一樣，這種分析技術可以提供有關物質的大量信息，並且不時問“這是什麼？”。 他也可以回答他的問題。

一個真實的例子：從冷凝水盤中包含的未知物質獲得光譜，並且在掃描中主要檢測到鋁，硫和氧的存在。 鋁是鹽類化合物中的陽離子，而硫和氧可能會作為硫酸根陰離子存在，這表明未知物質是硫酸鋁。 在進行了進一步研究的同時，發現冷凝盤由鋁製成，這表明冷凝液中的某些物質可能腐蝕了盤而形成腐蝕產物。

離子色譜法進行離子分析測試（IC）

IC是一種用於鑑定和測量離子化合物的分析方法。 離子性化合物是由陽離子，帶正電的離子和陰離子，帶負電的離子組成並通過靜電力結合的化合物。 諸如NaCl之類的鹽是離子化合物。 當溶解或存在水分或水分時，離子化合物可導電。 因此，電子器件中的離子污染特別成問題，因為增加的離子含量會導致低電阻和短路。 因此，通過定量確定離子污染，IC可以收集更多信息並識別污染物。 IC測試可以回答以下問題：

• 該物質是離子性的嗎？
• 有哪些離子種類？ 每個都有多少？
• 檢測到的數量可能會引起問題嗎？
• 檢測到的離子種類是否表明可能的來源？

在大多數情況下，每個污染分析部分（目視檢查，FTIR，SEM / ESD和IC）的結果均會相互使用，以產生單一結果。 一種技術提供比其他技術更多的信息並不罕見。 但是，將它們全部一起使用是獲取整個圖像的更好方法。