IEC 61300-3-2 光纖互連設備和無源元件 - 第 3-2 部分：單模光纖設備中的偏振相關損耗

EUROLAB 實驗室在 IEC 61300-3-2 標準範圍內提供測試和合規服務。 IEC 61300 標準的這一部分規定了用於確定單模光纖設備中的損耗對偏振變化的依賴性的測量方法。 此過程側重於使用固定波長源進行測量。

因此，此過程適用於其單一波長的特徵可以代表更寬波段的特徵的設備。 此類設備的典型示例是單模互連設備和無源組件，包括連接器、接頭、分支設備、衰減器、隔離器和開關。

觀察到的最大傳導損耗變化稱為極化相關損耗 (PDL)。 本標準適用於寬帶設備，不適用於濾波器和多路復用器等窄帶設備。 讀者參考 IEC 61300-3-29 進行此類測量。

描述了兩種測量極化引起的損耗的方法。 全狀態方法通過激發一組具有代表性的所有可能的極化狀態（包括線性、圓形和橢圓形）來確定傳輸損耗的最大變化。 穆勒矩陣方法使用一組穩態和應用穆勒矩陣數學分析來確定靈敏度。

在這種方法中，使用功率計通過在所有可能的偏振狀態的代表性集合上旋轉源偏振來確定設備的響應，同時 PDL 監視傳輸。 可以以確定性或偽隨機方式執行旋轉。

術語確定性是指可重複掃描整個偏振態空間的一個大子集的技術。 此方法沿預定軌跡掃描 Poincare 球體，並產生良好的全球體覆蓋近似值。

術語偽隨機是指通過光路中的偽隨機延遲變化來掃描偏振的技術，通常使用運動中光纖環路的分佈延遲。

穆勒矩陣方法涉及測量被測設備 (DUT) 在輸入光被一小組明確定義的偏振狀態照射時的行為。 這些測量之後是矩陣計算以確定 DUT 的 PDL。 一般來說，有兩種矩陣形式可以描述和量化基於 Mueller 和 Jones 計算的光的偏振行為。 對於全偏振光，Mueller 和 Jones 形式與 PDL 測量的要求是等效的。 由於僅在 DUT 的一側使用偏振儀器進行測量直接獲得 Mueller 矩陣的必要元素，即對應於功率比而不是場幅度和相位的元素，因此此處描述的測試過程使用 Mueller 的數學來確定 PDL。

穆勒矩陣形式需要組件性能的光功率表示。 這個矩陣是一個16元素的方陣。 這裡，光的偏振態 (SOP) 定義為 4 元素斯托克斯矢量。 入射光的斯托克斯向量乘以被測器件的穆勒矩陣，得到輸出光的斯托克斯向量，這可能是由透射、反射或散射引起的。 在使用 Mueller 矩陣確定組件的 PDL 時，通常不需要指定確切的 Mueller 矩陣，而只需指定矩陣的第一行，它提供有關光強度的完整信息，但不提供最終的偏振狀態。

該方法的準確性取決於光源波長穩定性、系統信噪比和系統雙折射偏差。

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