MIL-STD 750 半導體元件測試

EUROLAB 實驗室擁有專家團隊和技術設備，可根據 MIL-STD 750 標準測試半導體器件，包括基本環境測試以及物理和電氣測試，以確定對自然元素和軍事行動環境的有害影響的抵抗力。 就 MIL STD 750 而言，術語“設備”包括晶體管、二極管、穩壓器、整流器、隧道二極管和其他相關部件等項目。 本標準僅適用於半導體器件。

MIL-STD-750(F)建立了測試適用於軍事和航空航天電子系統的半導體器件的統一方法和程序。 本標準各部分中的方法和程序包括基本的環境、物理和電氣測試，用於確定對軍事和空間操作周圍自然因素和條件的有害影響的抵抗力。

高級組件測試已通過 UAF (UAF) 的實驗室合規性審核，用於測試美國政府提供的 MIL-SPEC 產品。 EUROLAB 是為數不多的獲得合格和批准的零部件加工和測試實驗室之一，並且是具有測試認證的合格評定機構，可測試 MIL-STD-750 以及 MIL-STD-202 和 MIL-STD-883 方法。

標題按標準項目；

環境測試（1000系列）

MIL-STD-750 方法編號 1001.2 大氣壓力（低）
MIL-STD-750 方法編號 1011.1 浸入
MIL-STD-750 方法編號 1015.1 穩態初級光電流照射程序（電子束）
MIL-STD-750 方法編號 1016 絕緣電阻
MIL-STD-750 方法編號 1017.1 中子輻射
MIL-STD-750 方法編號 1018.3 內部氣體分析
MIL-STD-750 方法編號 1019.5 穩態總劑量照射程序
MIL-STD-750 方法編號 1020.2 靜電放電靈敏度 (ESDS) 分類
MIL-STD-750 方法編號 1021.3 耐濕性
MIL-STD-750 方法編號 1022.5 耐溶劑性
MIL-STD-750 方法編號 1026.5 穩態工作壽命
MIL-STD-750 方法編號 1027.3 穩態運行壽命（示例計劃）
MIL-STD-750 方法編號 1031.5 高溫壽命（非操作）
MIL-STD-750 方法編號 1032.2 高溫（非操作）壽命（樣品計劃）
MIL-STD-750 方法編號 1033 反向電壓洩漏穩定性
MIL-STD-750 方法編號 1036.3 間歇工作壽命
MIL-STD-750 方法編號 1037.2 間歇操作壽命（樣品計劃）
MIL-STD-750 方法編號 1038.4 燃燒（用於二極管、整流器和齊納二極管）
MIL-STD-750 方法編號 1039.4 燃燒（用於晶體管）
MIL-STD-750 方法編號 1040 燃燒（用於晶閘管（受控整流器）
MIL-STD-750 方法編號 1041.3 鹽氣氛（腐蝕）
MIL-STD-750 方法編號 1042.3 功率 MOSFET 或絕緣柵雙極晶體管 (IGBT) 的燃燒和壽命測試
MIL-STD-750 方法編號 1046.3 鹽霧（腐蝕）
MIL-STD-750 方法編號 1048 預防生命
MIL-STD-750 方法編號 1049 阻塞壽命（樣品計劃）
MIL-STD-750 方法編號 1051.6 溫度循環（空氣對空氣）
MIL-STD-750 方法編號 1054.1 盆栽介質壓力測試
MIL-STD-750 方法編號 1055.1 監控的工作溫度循環
MIL-STD-750 方法編號 1056.7 熱衝擊（液體到液體）
MIL-STD-750 方法編號 1057.1 抗玻璃破裂
MIL-STD-750 方法編號 1061.1 溫度測量、外殼和螺柱
MIL-STD-750 方法編號 1066.1 露點
MIL-STD-750 方法編號 1071.8 氣密密封
MIL-STD-750 方法編號 1080 單事件燒毀和單事件門破裂測試

機械性能測試（2000系列）

MIL-STD-750 方法編號 2005.2 軸向引線拉力測試
MIL-STD-750 方法編號 2006 恆定加速度
MIL-STD-750 方法編號 2016.2 衝擊
MIL-STD-750 方法編號 2017.2 模具插入完整性
MIL-STD-750 方法編號 2026.11 可焊性
MIL-STD-750 方法編號 2031.3 焊接耐熱性
MIL-STD-750 方法編號 2036.4 終端電源
MIL-STD-750 方法編號 2037.1 粘合強度
MIL-STD-750 方法編號 2046.2 振動疲勞
MIL-STD-750 方法編號 2051.1 振動噪聲
MIL-STD-750 方法編號 2052.4 粒子撞擊噪聲檢測 (PIND) 測試
MIL-STD-750 方法編號 2056 振動，變頻
MIL-STD-750 方法編號 2057.2 振動，變頻（監測）
MIL-STD-750 方法編號 2066 物理尺寸
MIL-STD-750 方法編號 2068 不透明、玻璃封裝、雙插頭、無間隙、軸向引線二極管的外部視覺
MIL-STD-750 方法編號 2069.2 封面圖片，功率 MOSFET
MIL-STD-750 方法編號 2070.2 帶有前蓋的可視微波分立和多芯片晶體管
MIL-STD-750 方法編號 2071.6 目視和機械檢查
MIL-STD-750 方法編號 2072.6 內部視覺晶體管（前蓋）檢查
MIL-STD-750 方法編號 2073.1 模具內部檢查（半導體二極管）
MIL-STD-750 方法編號 2074.4 內部目視檢查（分立半導體二極管）
MIL-STD-750 方法編號 2075.1 無標題內部視覺設計驗證
MIL-STD-750 方法編號 2076.3 射線照相術
MIL-STD-750 方法編號 2077.3 金屬化的掃描電子顯微鏡 (SEM) 研究
MIL-STD-750 方法編號 2078 硬接線二極管/整流器的內部圖像
MIL-STD-750 方法編號 2081 前向不穩定性、衝擊 (FIST)
MIL-STD-750 方法編號 2082 向後不穩定性、抖動 (BIST)
MIL-STD-750 方法編號 2101.1 二極管的 DPA 程序
MIL-STD-750 方法編號 2102 DPA，用於有線設備
MIL-STD-750 方法編號 2103 表面貼裝器件的設計驗證

MIL-STD-750 會定期修訂。 該標準的當前版本包括 MIL-STD-750 F、MIL-STD-750 E、MIL-STD-750 D、MIL-STD-750 C、MIL-STD-750 B、MIL-STD-750 A、MIL。 -STD-750/5、MIL-STD-750/4、MIL-STD-750/3、MIL-STD-750/2 和 MIL-STD-750/1。