MIL STD 750 半導體器件測試方法

防禦測試

MIL STD 750 半導體器件測試方法

MIL STD 750 測試標準為測試適用於軍事和航空航天電子系統的半導體器件建立了統一的方法和程序。 本標準各部分中的方法和程序涵蓋了基本的環境、物理和電氣測試,以確定對軍事和太空行動周圍自然元素和條件的有害影響的抵抗力。

MIL STD 750 半導體器件測試方法

在本標準中,“器件”一詞包括晶體管、二極管、穩壓器、整流器、隧道二極管和其他相關部件。 本標準僅適用於半導體器件。 該多部分測試方法標準的各個部分中描述的測試方法和程序旨在用於多種目的:

確定在實驗室可獲得的合適條件,給出與現場可用的實際使用條件相當的試驗結果,並達到試驗結果的可重複性。 本標準描述的測試方法不應被解釋為在任何地理位置的實際服務操作的明確表示,因為在特定位置的唯一真正的操作測試已知是該點的真實服務測試。

在一套標準中,描述出現在各種通用服務半導體器件規範中的所有具有相似性質的測試方法,使這些測試方法可以保持統一,從而對設備、工時和測試設施造成保護。 為了實現這一目標,有必要使每種常見的測試方法都適用於各種各樣的設備。

本標準描述的用於半導體器件環境、物理和電氣測試的測試方法也將在適當的情況下適用於經批准的軍用板形標準、規範或圖紙未涵蓋的部件。

測試方法分為五個區域,並在這個多部分測試方法標準的五個部分中找到。 編號為 1000 到 1999 的測試方法包括環境測試,並在 MIL-STD-750-1 中。 2000 年至 2999 年的測試方法涵蓋機械性能測試,並在 MIL-STD-750-2 中。 電氣性能測試分為兩組進行; 涵蓋晶體管的測試方法,包括 3000 到 3999(參見 MIL-STD-750-3)和涵蓋二極管的測試方法,包括 4000 到 4999(參見 MIL-STD-750-4)。 測試方法 5000 至 5999(含)適用於高可靠性現場應用,符合 MIL-STD-750-5。

EUROLAB 還在其他軍事測試服務範圍內提供 MIL STD 750 測試服務。 借助這些服務,企業可以獲得更有效、高性能和高質量的測試服務,並為其客戶提供安全、快速和不間斷的服務。

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