MIL-STD-883 標准定義了微電路兼容性測試。 MIL-STD-883 是軍用測試標準，它建立了用於測試微電子設備的統一方法、控制和程序。
MIL-STD-883 測試的目的是根據自然元素和條件的有害影響來識別適合用於軍事和航空航天電子系統的設備。
MIL-STD 883 標準將設備定義為諸如單片、多芯片、薄膜和混合微電路、微電路陣列以及構建電路和陣列的項目。 本標準僅適用於微電子設備。
該軍用合規性標準具有三個主要目的。 首先是確定可以在實驗室和儀器級別實現的合適條件。 這些條件給出的測試結果與現場可用的實際使用條件相當。 實現測試結果的可重複性非常重要。
第二個目標是在單一標準中描述在各種聯合服務和 NASA 微電子設備規範中看到的具有相似特徵的所有測試方法。 這是保持這些方法統一的目標。 結果是保護了設備、運行時間和測試設施。 為了實現這一目標，每個通用測試都需要適用於各種設備。
最終目標是在物理、電氣和環境測試中提供一定程度的一致性； 製造控制和工藝； 和材料。 這將確保根據測試標準掃描的所有設備的質量和可靠性一致。
MIL-STD 883 分為五個系列。 以下是所有測試的摘要以及某些測試的其他信息的鏈接。
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