HAST - 高加速應力測試

高加速應力測試 (HAST) 結合高溫、高濕度、高壓和時間來測量有或沒有電氣漂移的組件安全性。

這種受控測試加速了更傳統測試的壓力。 事實上，該測試起到腐蝕失效測試的作用。 腐蝕型故障加速，包裝墊圈、材料和接頭的缺陷在很短的時間內暴露出來。

典型的 HAST 測試條件包括 110 度到 130 度的溫度和 85% 的相對濕度和 96 小時的測試時間。 高加速應力測試完成後，將測試樣品放入帶有測試時間標籤的防潮袋中。

HAST測試通常基於聯合電子設備工程委員會（JEDEC）制定的以下標準：

• JESD 22-A110 高速溫濕度應力測試 (HAST)
• JESD 22-A118 加速抗濕性 - HAST 中性

JESD 22-A110 標準描述了一種用於評估非密封封裝固態器件在潮濕環境中的可靠性的測試方法。 在此測試期間，模擬了嚴酷的溫度、濕度和偏置條件，這些條件加速了水分通過外部屏蔽材料（封裝或墊圈）或沿著外部屏蔽材料和穿過它的金屬導體之間的界面滲透。

JESD 22-A118 標準描述了一種用於評估非密封封裝固態器件在潮濕環境中的可靠性的測試方法。 該測試方法是一種高度加速測試，它利用非冷凝條件下的溫度和濕度來加速濕氣通過外部屏蔽材料（封裝或墊圈）或通過外部屏蔽材料與通過它的金屬導體之間的界面滲透。 在該測試中沒有應用偏差來揭示可能被偏差掩蓋的失效機制，例如電偶腐蝕。 該測試用於識別封裝內的故障機制，是一種破壞性測試方法。

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