ISO 11452-3 Dar Bant Yayılan Elektromanyetik Enerjiden Kaynaklanan Elektriksel Bozulmalar için Bileşen Deney Yöntemleri - Bölüm 3: Enine Elektromanyetik (TEM) Hücre

Elektromanyetik ve Elektriksel Testler

ISO 11452-3 Dar Bant Yayılan Elektromanyetik Enerjiden Kaynaklanan Elektriksel Bozulmalar için Bileşen Deney Yöntemleri - Bölüm 3: Enine Elektromanyetik (TEM) Hücre

EUROLAB laboratuvar ISO 11452-3 standardı kapsamında test ve uygunluk hizmeti sunar. Uluslararası Standartlar Örgütü (ISO) tarafından geliştirilen ISO 11452 standardının bu bölümü, araç tahrik sisteminden bağımsız olarak (örn. kıvılcım ateşlemeli motor, dizel) binek araçların ve ticari araçların elektronik bileşenlerinin dar bant yayılan elektromanyetik enerjiden kaynaklanan elektriksel bozulmalara karşı bağışıklığını belirlemek için enine elektromanyetik (TEM) hücre testlerini belirtir. Ele alınan elektromanyetik bozulmalar, sürekli dar bant elektromanyetik alanlarla sınırlıdır.

ISO 11452-3 Dar Bant Yayılan Elektromanyetik Enerjiden Kaynaklanan Elektriksel Bozulmalar için Bileşen Deney Yöntemleri - Bölüm 3: Enine Elektromanyetik (TEM) Hücre

Komple karayolu taşıtlarının bağışıklık ölçümleri, örneğin, emici astarlı korumalı muhafazaların yüksek maliyetleri, prototiplerin gizliliğini koruma arzusu veya çok sayıda farklı araç modeli nedeniyle genellikle yalnızca araç üreticisi tarafından gerçekleştirilebilir.

Araştırma, geliştirme ve kalite kontrol için, elektronik bileşenleri test etmek için hem araç üreticileri hem de ekipman tedarikçileri tarafından bir laboratuvar ölçüm yöntemi kullanılabilir.

TEM hücre yönteminin en büyük avantajı, enerjiyi çevreleyen ortama yaymamasıdır. Yöntem, kablo demetine alan kuplajlı bir bileşenin bağışıklığını veya kablo demetine minimum maruz kalma ile tek başına bileşenin bağışıklığını test etmek için kullanılabilir.

TEM hücresinin üst frekans aralığı sınırı, TEM hücresi boyutlarının doğrudan bir fonksiyonudur. Otomotiv elektronik sistemlerini test etmek için 0,01 MHz ila 200 MHz TEM hücresi kullanılmalıdır. Kullanıcı, frekans aralığı üzerindeki test şiddet seviyesini veya seviyelerini belirtmelidir.

TEM hücresinin izin verilen çalışma bölgesinde test edilen cihazı konumlandırmak için uygun uzunlukta bir baskılı devre kartı veya sert bir desteğe sabitlenmiş bir dizi uç kullanılarak test edilir. Konnektör ile test edilen cihaz arasındaki baskılı devre kartı veya desteklenen kablo demeti, TEM hücresindeki kabloların ve test edilen cihazın konumu sabitlenirse, tekrarlanabilir ölçüm sonuçları verecektir.

Kuruluşumuz tarafından malzeme test hizmetleri çerçevesinde verilen hizmetler arasında ISO 11452-3 standardı testleri de bulunmaktadır. Test ve sertifikasyon talepleriniz için laboratuvarımız EUROLAB ile iletişime geçmekten çekinmeyin.

Hemen Teklif Alın

Randevu almak, daha detaylı bilgi edinmek yada değerlendirme talep etmek için formumuzu doldurarak size ulaşmamızı isteyebilirsiniz.

WhatsApp