XRD (X-Işını Kırınımı) Analizleri

X-ışını kırınımı (XRD), katı numunelerin kristalliğini ve yapısını değerlendirmek amacı ile yaygın olarak kullanılan bir analiz yöntemidir.

Bu teknikte kristal X-ışını kırınım fenomeni, dalga boyunu değiştirmeden numunede bulunan atomların elektronları tarafından X-ışınlarının saçıldığı bir saçılma sürecinden kaynaklanır. X-ışınlarının dalga boyları kristal bir katının atomlar arası aralığı ile karşılaştırılabilir olduğundan, gelen X-ışını belirli yönlerde kırınım yapar. Kırınım etkilerinin konumları ve yoğunlukları tarafından verilen kırınım deseni, malzemenin temel bir fiziksel özelliğidir ve yalnızca tanımlamayı değil, aynı zamanda yapısının da tam olarak açıklanmasını sağlar.

X-ışını toz kırınımı analizleri yaygın olarak, bilinmeyen kristal malzemelerin, örneğin mineraller ve inorganik bileşiklerin tanımlanması için kullanılır. Bilinmeyen katıların belirlenmesi jeoloji, çevre bilimi, malzeme bilimi, mühendislik ve biyoloji alanındaki çalışmalar için kritik öneme sahiptir.

Diğer uygulama alanları ise şunlardır: kristal malzemelerin karakterizasyonu, optik olarak belirlenmesi zor olan killer ve karışık tabakalı killer gibi ince taneli minerallerin tanımlanması, birim hücre boyutlarının belirlenmesi ve numune saflığının ölçümü.

X-ışını kırınımı analizlerinin güçlü yönleri şunlardır:

• Bilinmeyen bir mineralin tanımlanması için güçlü ve hızlı tekniktir (en fazla 20 dakikada sonuç alınır)
• Çoğu durumda, kesin bir mineral tayini sağlar
• Minimum numune hazırlama gereklidir
• XRD birimleri yaygın olarak bulunur
• Veri yorumlama nispeten basittir

Bu tekniği sınırlamaları ise şu şekildedir:

• Homojen ve tek fazlı malzeme, bilinmeyen bir maddenin tanımlanması için en iyisidir
• İnorganik bileşiklerin standart bir referans dosyasına erişimi olmalıdır
• Toz haline getirilmesi gereken onda bir gram malzeme gerektirir
• Karışık malzemeler için tespit limiti numunenin yaklaşım yüzde 2’sidir
• Birim hücre belirlemeleri için, izometrik olmayan kristal sistemler için modellerin indekslenmesi karmaşıktır
• Yüksek açılı yansımalar için tepe katmanı oluşabilir ve kötüleşir

Kısaca X-ışını kırınımı tekniği ile katmanlar veya atom sıraları arasındaki ortalama boşluklar ölçülür, tek bir kristalin veya tanenin yönü belirlenir, bilinmeyen bir malzemenin kristal yapısı bulunur ve küçük kristal bölgelerin boyutu, şekli ve iç gerilimi ölçülür.

Kuruluşumuz, çeşitli sektörlerdeki işletmeler için verdiği sayısız test, ölçüm, analiz ve değerlendirme çalışmaları arasında, eğitimli ve uzman bir kadro ve gelişmiş teknolojik donanımı ile, XRD (X-ışını kırınımı) analiz hizmetleri de vermektedir.