IEC EN 62899-503-3 Basılı Elektronik - Bölüm 503-3: Kalite Değerlendirmesi - Basılı İnce Film Transistörü için Temas Direncinin Ölçüm Yöntemi

Elektrik Elektronik Testleri

IEC EN 62899-503-3 Basılı Elektronik - Bölüm 503-3: Kalite Değerlendirmesi - Basılı İnce Film Transistörü için Temas Direncinin Ölçüm Yöntemi

EUROLAB, son teknolojiye sahip akredite laboratuvarları ve uzman ekibiyle birlikte IEC EN 62899-503-3 testi kapsamında kesin ve hızlı test hizmetleri sunar. IEC EN 62899-503-3, transfer uzunluğu yöntemiyle (TLM) baskılı ince film transistörler (TFT'ler) için bir temas direnci ölçüm yöntemi belirtir. Yöntem, kaynak ve boşaltma elektrotları arasında değişen kanal uzunluğuna (L) sahip bir test elemanı grubunun (TEG) üretilmesini gerektirir. Yöntem, TFT elektrot temaslarının kalite değerlendirmesi için tasarlanmıştır ve temas direncinin istenen bir aralıkta olup olmadığını belirlemek için uygundur.

IEC EN 62899-503-3 Basılı Elektronik - Bölüm 503-3: Kalite Değerlendirmesi - Basılı İnce Film Transistörü için Temas Direncinin Ölçüm Yöntemi

Bir ince film transistörde (TFT), kapı, kaynak ve boşaltma elektrotları ve TFT yarı iletken katmanındaki temas eden arayüzlerde temas direnci oluşur. Geçit elektrotunda temas direnci ihmal edilebilirken, kaynak ve boşaltma elektrotlarına uygulanan etkin gerilimi azaltır. Bu nedenle temas direncinin değerlendirilmesi, basılı TFT'lerin performans özelliklerine ilişkin önemli bilgiler sağlayabilir.

Özellikle basılı elektronikler için, temas direnci, kullanılan malzemelere, baskı süreçlerine ve zaman serisi değişimine göre değişir çünkü arayüz, vakumlu biriktirme ve aşındırma işlemleriyle elde edilen bir bağlantı yerine, eklemeli üretimle elde edilen basit temastan yapılır. Bu nedenle, yazdırılan TFT'lerin performansı, temas direncinin değerinden büyük ölçüde etkilenir. Bu nedenle, temas direncindeki bir değişikliğin, basılı bir TFT'nin performansının, kullanım ömrünün ve güvenilirliğinin doğru bir şekilde yorumlanması için kilit bir faktör olduğu düşünülür.

Temas direncini belirlemek için iki uçlu temas yöntemi, dört uçlu temas yöntemi, altı uçlu temas yöntemi, transfer uzunluğu yöntemi ve tarama probu potansiyometre tekniği dahil ancak bunlarla sınırlı olmamak üzere çeşitli teknikler kullanılabilir.

Aktarım uzunluğu yönteminin (TLM) özellikle pratik bir avantajı vardır çünkü tedarikçi orijinal basılı TFT ile aynı yapıya sahip ayrı cihazları ortak bir alt tabaka üzerinde aynı anda test edebilir. Ayrıca TLM uygun maliyetlidir, çünkü kullanıcı görünür temas direncini pahalı ekipman kullanmadan ölçebilir. Bu nedenle, TLM'yi kullanarak tedarikçi ve kullanıcı, tedarik zinciri hizmetlerinin bir parçası olarak güvenilirlik değerlendirmesi için TFT'nin önemli parametresi olan temas direncini değiştirebilir.

EUROLAB, üreticilere IEC EN 62899-503-3 test uyumluluğu konusunda yardımcı olur. Test uzmanlarımız, profesyonel çalışma misyonu ve prensipleri ile siz üretici ve tedarikçilerimize laboratuvarlarımızda en iyi hizmeti ve kontrollü test sürecini sunar. Bu hizmetler sayesinde işletmeler daha etkin, yüksek performanslı ve kaliteli test hizmetleri almış olmakta ve müşterilerine, güvenli, hızlı ve kesintisiz hizmet vermektedir.

Hemen Teklif Alın

Randevu almak, daha detaylı bilgi edinmek yada değerlendirme talep etmek için formumuzu doldurarak size ulaşmamızı isteyebilirsiniz.

WhatsApp