SEM Taramalı Elektron Mikroskopisi

Taramalı Elektron Mikroskobu veya SEM analizi, yüzey kırıkları, kusurlar, kirleticiler veya korozyon için çeşitli malzemeleri değerlendirmek için faydalı yüksek çözünürlüklü görüntüleme sağlar. SEM ve EDX analizi sayesinde, metalürjik uzmanlarımız malzeme özelliklerinin kapsamlı bir incelemesini sağlar ve üreticilere değerli bilgiler verir.

SEM analizi, bir numunenin yüzey topografyasının karmaşık, yüksek büyütülmüş görüntülerini üretmek için odaklanmış bir elektron demeti kullanan güçlü bir araştırma aracıdır. Numune üzerinde bir ilgi alanı belirlendikten ve SEM kullanılarak değerlendirildikten sonra, uzmanlarımız enerji dağıtıcı x-ışını spektroskopisi veya EDX analizi kullanarak malzemenin ayrıntılarına daha derinlemesine dalabilirler.

Neden SEM analizi?

Tarama elektron mikroskobu kullanılarak bir yüzeyin görsel analizinin yapılması, kirletici maddelerin veya bilinmeyen partiküllerin, arızanın nedenine ve malzemeler arasındaki etkileşimlerin belirlenmesine katkıda bulunur.

Yüzey değerlendirmesine ek olarak, mekanik aşınma testi sırasında üretilen aşınma kalıntıları gibi parçacık karakterizasyonu için SEM analizi kullanılır. SEM analizimizin yüksek büyütme, yüksek çözünürlüklü görüntülemesi, küçük parçacıkların sayısının, boyutunun ve morfolojisinin belirlenmesini destekleyerek müşterilerin malzemelerinin aşınma özelliklerini anlamalarını sağlar.

SEM ve EDX Analizini Birleştirme

EDX, EDS veya EDAX olarak da adlandırılan enerji dağıtıcı x-ışını spektroskopisi, SEM analiz işlemi sırasında yüzey malzemesinin daha iyi anlaşılmasını sağlar. EDX analizi, bir numunenin elementel bileşimini elde etmek için kullanılır ve sadece SEM analizi ile sağlanandan daha nicel bir sonuç sağlar. SEM ve EDX analizlerinin kombinasyonu kimyasal bileşim ve temel araştırma sunar ve kapsamlı bir metalürjik değerlendirme sağlar.